ASTM C1332-01(2013)
通过脉冲回波接触技术测量高级陶瓷超声波衰减系数的标准测试方法

Standard Test Method for Measurement of Ultrasonic Attenuation Coefficients of Advanced Ceramics by Pulse-Echo Contact Technique


标准号
ASTM C1332-01(2013)
发布
2013年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM C1332-18
当前最新
ASTM C1332-18(2023)
 
 
引用标准
ASTM C1331 ASTM E1316 ASTM E1495 ASTM E664 MIL-STD-410
适用范围
1.1 本测试方法描述了先进结构陶瓷材料超声波衰减系数的测量程序。该过程基于脉冲回波接触模式下使用的宽带缓冲压电探头,并发射纵波或横波。该测试方法的主要目标是材料表征。
1.2 该过程需要将超声波探头耦合到板状样品的表面并恢复连续的前表面和后表面回波。回波的功率谱用于计算样品材料的衰减谱(衰减系数作为超声波频率的函数)。选择换能器带宽和光谱响应以覆盖与固体测试样品中感兴趣的微观结构特征相互作用的一系列频率和相应波长。
1.3 本试验方法的目的是建立超声波衰减系数测量的基本程序。这些测量应区分和量化固体样品之间的微观结构差异,因此有助于建立用于比较材料和校准超声波衰减测量设备的参考数据库。
1.4 本试验方法适用于单片陶瓷和多晶金属。该测试方法可应用于晶须增强陶瓷、颗粒增韧陶瓷和陶瓷复合材料,前提是满足本文针对整体陶瓷所述的样品尺寸、形状和光洁度的类似限制。
1.5 本测试方法规定了对样品尺寸、形状和光洁度的限制,以确保有效的衰减系数测量。该测试方法还描述了完成测量的仪器、方法和数据处理程序。
1.6 该测试方法不推荐用于高衰减材料,例如非常厚、多孔、表面粗糙的整体材料或复合材料。不建议将这种测试方法用于高度不均匀、异质、破裂、有缺陷或有其他缺陷的样品,这些样品不能代表所检查材料的性质或固有特性。
1.7 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题(如果有)。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

ASTM C1332-01(2013)相似标准


推荐

超声波测厚仪

  超声波测厚仪原理及影响精度因素  超声波测厚仪基本原理:  超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量,当探头发射超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头   通过精确测量超声波在材料中传播时间来确定被测材料厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播各种材料均可采用此原理测量。  ...

TT100超声波测厚仪功能以及操作使用注意事项

超声波测厚原理,是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量,当探头发射超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过测量超声波在材料中传播时间来确定被测材料厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播各种材料均可采用此原理测量。  ...

怎样选购便携式测厚仪?

在进行测试时候要注意仪器测头和被测试要直接接触,因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。在进行测试时候要注意标准片集体金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。测量时侧头与试样表面保持垂直。测量时要注意基体金属临界厚度,如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度影响。测量时要注意试件曲率对测量影响。因此在弯曲试件表面上测量时不可靠。...

超声波测厚仪测试原理及其应用

超声波测厚仪测试原理及应用 超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量,当探头发射超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头通过测量超声波在材料中传播时间来确定被测材料厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播各种材料均可采用此原理测量。...





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号