KS D ISO 22493:2012
微光束分析.扫描电子显微镜.术语

Microbeam analysis-Scanning electron microscopy-Vocabulary


 

 

非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 KS D ISO 22493:2012 前三页,或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准,
点击右侧 “购买” 按钮开始采购(由第三方提供)。

点击下载后,生成下载文件时间比较长,请耐心等待......

 

标准号
KS D ISO 22493:2012
发布
2012年
发布单位
韩国科技标准局
替代标准
KS D ISO 22493-2012(2017)
当前最新
KS D ISO 22493:2022
 
 
适用范围
이 표준은 주사전자현미경(SEM) 분석에서 사용하는 용어를 정의한다. 이 표준은 체계적인

KS D ISO 22493:2012相似标准


推荐


KS D ISO 22493:2012 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号