KS D 0257-2002
光电导衰减测量法测定硅单晶体少数载流子寿命的方法

Measuring of minority - carrier lifetime in silicon single crystal by photoconductive decay method

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 KS D 0257-2002 前三页，或者稍后再访问。

如果您需要购买此标准的全文，请联系： 。

注意： 点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号

KS D 0257-2002

发布日期

2002年05月29日

实施日期

2002年05月29日

废止日期

无

中国标准分类号

H81

国际标准分类号

29.045

发布单位

KR-KATS

被代替标准

KS D 0257-1999

适用范围

이 규격은 실리콘 단결정 중의 소수 캐리어의 벌크 재결합 수명(이하 벌크 수명 또는 tB라