KS I 0051-1999
扫描电子显微镜试验方法通则

General rules for scanning electron microscopy

被代替

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 KS I 0051-1999 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

标准号

KS I 0051-1999

发布

1999年

发布单位

韩国科技标准局

替代标准

KS I 0051-2019

当前最新

KS I 0051-2019

 

 

被代替标准

M0044

适用范围

이 규격은 주사 전자 현미경을 사용하고 주로 2차 전자에 의한 시료 표면의 미소한 부분의

KS I 0051-1999相似标准

KS I 0051-1999 中可能用到的仪器设备