GB/T 14849.5-2014
工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法

Methods for chemical analysis of silicon metal.Part 5:Determination of impurity contents.X-ray fluorescence method


标准号
GB/T 14849.5-2014
发布日期
2014-12-05
实施日期
2015-05-01
废止日期
中国标准分类号
H12
国际标准分类号
77.120.10
发布单位
CN-GB
引用标准
GB/T 8170
被代替标准
GB/T 14849.5-2010
适用范围
GB/T 14849的本部分规定了工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定方法。本部分适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定,测定范围见表1。

GB/T 14849.5-2014 中可能用到的仪器设备





Copyright ©2007-2016 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号