KS C IEC 60749-16-2006
半导体器件.机械和气候试验方法.第16部分:粒子冲击噪声探测(PIND)

Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-Part 16:Particle impact noise detection(PIND)

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标准号

KS C IEC 60749-16-2006

发布日期

2006年11月30日

实施日期

2006年11月30日

废止日期

无

中国标准分类号

L40

国际标准分类号

31.080.01

发布单位

KR-KATS

适用范围

이 규격의 목적은 공동 소자 내부에 세라믹 칩, 본딩 와이어 조각 또는 솔더볼과 같은 떨어