GB/T 14849.4-2014
工业硅化学分析方法 第4部分:杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

Methods for chemical analysis of silicon metal.Part 4:Determination of impurity contents.Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method


标准号
GB/T 14849.4-2014
发布日期
2014-12-05
实施日期
2015-08-01
废止日期
中国标准分类号
H12
国际标准分类号
77.120.10
发布单位
CN-GB
适用范围
GB/T 14849的本部分规定了工业硅中铁、铝、钙、锰、钛、镍、铜、铬、钒、镁、钴、磷、钾、钠、铅、锌、硼含量的测定方法。本部分适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、钛、镍、铜、铬、钒、镁、钴、磷、钾、钠、铅、锌、硼量的测定。各元素测定范围见表1。

GB/T 14849.4-2014 中可能用到的仪器设备





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