ASTM F744M-16
测量数字集成电路 (米制) 混乱用剂量率阀值的标准试验方法
Standard Test Method for Measuring Dose Rate Threshold for Upset of Digital Integrated Circuits (Metric)
- 标准号
- ASTM F744M-16
- 发布
- 2016年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 当前最新
- ASTM F744M-16
- 引用标准
- ASTM E1894 ASTM E666 ASTM E668 ASTM F526
- 适用范围
- 1.1 本测试方法涵盖仅在静态工作条件下引起数字集成电路混乱的辐射剂量率阈值水平的测量。辐射源是闪光 X 射线机 (FXR) 或电子直线加速器 (LINAC)。
1.2 测量精度取决于辐射场的均匀性以及辐射剂量测定和记录仪器的精度。
1.3 如果被测集成电路吸收的总辐射剂量超过某个预定水平，则该测试可能对进一步的测试或本测试以外的目的具有破坏性。由于该水平取决于集成电路的类型和应用，因此测试各方必须就具体值达成一致（6.8）。
1.4 本测试方法包括设置、校准和测试电路评估程序。
1.5 本测试方法不包括批次鉴定和抽样程序。
1.6 由于不同设备类型的响应存在差异，本测试方法中未给出任何特定测试的初始剂量率和设备扰乱条件，但必须由测试各方商定。 1.7 以 SI 单位表示的值被视为标准值。本标准不包含其他计量单位。
1.8 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。