GB/T 26068-2018
硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法

Measurement of Carrier Recombination Lifetime of Silicon Wafer and Ingot Non-contact Microwave Reflection Photoconductivity Decay Method

GBT26068-2018, GB26068-2018

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标准号

GB/T 26068-2018

别名

GBT26068-2018, GB26068-2018

发布

2019年

发布单位

国家质检总局

当前最新

GB/T 26068-2018

 

 

被代替标准

GB/T 26068-2010

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