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薄膜 应力

本专题涉及薄膜 应力的标准有29条。

国际标准分类中,薄膜 应力涉及到表面处理和镀涂、纺织产品、摄影技术、橡胶和塑料制品、半导体分立器件、电子电信设备用机电元件。

在中国标准分类中,薄膜 应力涉及到、建材产品综合、合成树脂、塑料基础标准与通用方法、其他纺织制品、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合、塑料型材、木构配件。


中国团体标准,关于薄膜 应力的标准

(美国)海军,关于薄膜 应力的标准

德国标准化学会,关于薄膜 应力的标准

  • DIN 53369:1976-02 塑料薄膜测试;收缩应力的测定
  • DIN 53369:1976 塑料薄膜的检验.收缩应力的测定
  • DIN EN ISO 14616:2004 塑料.聚乙烯、乙烯共聚物及其混合物的热可缩薄膜.收缩应力的测定
  • DIN EN ISO 14616:2004-10 塑料-聚乙烯、乙烯共聚物及其混合物的热收缩薄膜-收缩应力和收缩应力的测定
  • DIN EN 62047-16:2015-12 半导体器件-微机电器件-第16部分:确定MEMS薄膜残余应力的测试方法-晶圆曲率和悬臂梁偏转方法

美国材料与试验协会,关于薄膜 应力的标准

  • ASTM D5397-07 用缺口恒定拉力荷载试验评定聚烯烃土工薄膜抗应力扯裂的标准试验方法
  • ASTM D5397-99 用缺口恒定拉力荷载试验评价聚烯烃土工薄膜抗应力扯裂的标准试验方法
  • ASTM D5397-07(2012) 用缺口恒定拉力荷载试验评定聚烯烃土工薄膜抗应力扯裂的标准试验方法
  • ASTM E2245-05 用光学干涉仪测量反射薄膜残余应力的标准试验方法
  • ASTM E2245-02 用光学干涉仪测量反射薄膜残余应力的标准试验方法

法国标准化协会,关于薄膜 应力的标准

  • NF T54-125*NF EN ISO 14616:2004 塑料.聚乙烯、乙烯共聚物及其混合物的热可缩薄膜.收缩应力的测定
  • NF T54-125:1993 塑料制品.聚乙烯、乙烯共聚物及其混合物制热缩性薄膜.收缩应力的测定.试验方法
  • NF C96-050-16*NF EN 62047-16:2015 半导体器件 微机电器件 第16部分:测定 MEMS 薄膜残余应力的测试方法 晶片曲率和悬臂梁偏转方法
  • NF EN 62047-16:2015 半导体器件.微机电器件.第16部分:测定MEMS薄膜残余应力的测试方法.晶圆曲率和悬臂梁偏转方法
  • NF EN ISO 14616:2004 塑料.聚乙烯、乙烯共聚物及其混合物的热收缩薄膜.收缩和收缩应力的测定

英国标准学会,关于薄膜 应力的标准

  • BS EN ISO 14616:1997 塑料.聚乙烯、乙烯共聚物及其混合物的热收缩薄膜.收缩应力的测定
  • BS EN ISO 14616:2004 塑料 聚乙烯、乙烯共聚物及其混合物的热收缩薄膜 收缩应力和收缩应力的测定

国际标准化组织,关于薄膜 应力的标准

  • ISO 14616:1997 塑料.聚乙烯、乙烯共聚物及其混合物的热可缩薄膜.收缩应力的测定

丹麦标准化协会,关于薄膜 应力的标准

  • DS/EN ISO 14616:2004 塑料 聚乙烯、乙烯共聚物及其混合物的热收缩薄膜 收缩应力和收缩应力的测定

韩国科技标准局,关于薄膜 应力的标准

  • KS M ISO 14616:2002 塑料.聚乙烯、乙烯共聚物以及它们的混合物的热可缩薄膜.收缩应力的测定

欧洲标准化委员会,关于薄膜 应力的标准

  • EN ISO 14616:2004 塑料.聚乙烯,乙烯共聚物及其混合物的热可缩薄膜.收缩应力的测定 ISO 14616-1997

立陶宛标准局,关于薄膜 应力的标准

  • LST EN ISO 14616:2005 塑料 聚乙烯、乙烯共聚物及其混合物的热收缩薄膜 收缩应力和收缩应力的测定(ISO 14616:1997)

AENOR,关于薄膜 应力的标准

  • UNE-EN ISO 14616:2005 塑料 聚乙烯、乙烯共聚物及其混合物的热收缩薄膜 收缩应力和收缩应力的测定(ISO 14616:1997)

欧洲电工标准化委员会,关于薄膜 应力的标准

  • EN 62047-16:2015 半导体器件-微机电器件-第16部分:测定 MEMS 薄膜残余应力的试验方法 晶片曲率和悬臂梁偏转方法

国际电工委员会,关于薄膜 应力的标准

  • IEC 62047-16:2015 半导体设备 微机电设备 第16部分:确定 MEMS 薄膜残余应力的测试方法 晶片曲率和悬臂梁偏转方法

ES-UNE,关于薄膜 应力的标准

  • UNE-EN 62047-16:2015 半导体器件 微机电器件 第16部分:测定 MEMS 薄膜残余应力的测试方法 晶圆曲率和悬臂梁偏转方法

未注明发布机构,关于薄膜 应力的标准

  • DIN EN 62047-16 E:2012-11 半导体器件-微机电器件-第16部分:确定MEMS薄膜残余应力的测试方法-晶圆曲率和悬臂梁偏转方法(草案)




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