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载流子 度
本专题涉及载流子 度的标准有24条。
国际标准分类中，载流子 度涉及到金属材料试验、无机化学、绝缘流体、半导体材料、分析化学。
在中国标准分类中，载流子 度涉及到金属物理性能试验方法、半金属及半导体材料分析方法、电子技术专用材料、半金属与半导体材料综合、金属理化性能试验方法、、化合物半导体材料、元素半导体材料、半导体二极管。
国家质检总局，关于载流子 度的标准
- GB/T 8757-1988 砷化镓载流子浓度等离子共振测量方法
- GB/T 8757-2006 砷化镓中载流子浓度等离子共振测量方法
- GB/T 36705-2018 氮化镓衬底片载流子浓度的测试 拉曼光谱法
- GB/T 11068-1989 砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法
- GB/T 14146-1993 硅外延层载流子浓度测定和探针电容--电压法
- GB/T 11068-2006 砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法
- GB/T 14146-2009 硅外延层载流子浓度测定.汞探针电容-电压法
- GB 11068-1989 砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法
- GB/T 14863-2013 用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法
- GB/T 14863-1993 用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于载流子 度的标准
- GB/T 14146-2021 硅外延层载流子浓度的测试 电容-电压法
行业标准-电子，关于载流子 度的标准
- SJ 2757-1987 重掺半导体载流子浓度的红外反射测试方法
- SJ 3248-1989 重掺砷化镓和磷化铟载流子浓度的红外反射测试方法
- SJ 3244.1-1989 砷化镓和磷化铟材料霍尔迁移率和载流子浓度的测量方法
- SJ 3244.4-1989 砷化镓和磷化铟材料载流子浓度剖面分布的测试方法.电化学电压电容法
中国团体标准，关于载流子 度的标准
- T/IAWBS 003-2017 碳化硅外延层载流子浓度测定_汞探针电容-电压法
英国标准学会，关于载流子 度的标准
- PD IEC TS 62607-5-3:2020 纳米制造 关键控制特性 薄膜有机/纳米电子器件 载流子浓度的测量
国际电工委员会，关于载流子 度的标准
- IEC TS 62607-6-16:2022 纳米制造.关键控制特性.第6-16部分:二维材料.载流子浓度:场效应晶体管法
- IEC TS 62607-5-3:2020 纳米制造关键控制特性第5-3部分:薄膜有机/纳米电子器件电荷载流子浓度的测量
美国材料与试验协会，关于载流子 度的标准
- ASTM F1393-92(1997) 用带汞探针的铣床回授靠模工具机测量器测定硅中净载流子密度的测试方法
- ASTM F1392-00 用带汞探针的容量-电压测量法测定硅晶片中净载流子密度分布的标准试验方法
- ASTM F398-92(1997) 通过测量等离子体共振最小波数或波长测定半导体中多数载流子浓度的标准试验方法
工业和信息化部，关于载流子 度的标准
- YS/T 679-2018 非本征半导体中少数载流子扩散长度的测试 表面光电压法
国际标准化组织，关于载流子 度的标准
- ISO/WD TR 23683:2023 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用电扫描探针显微镜对半导体器件中载流子浓度进行实验量化的指南
