δ ct

本专题涉及δ ct的标准有155条。

国际标准分类中,δ ct涉及到无损检测、职业安全、工业卫生、特殊工作条件下用电气设备、医疗设备、信息技术应用、移动业务、开放系统互连(OSI)、金属材料试验、建筑物的防护、医学科学和保健装置综合、航空航天用电气设备和系统、石油和天然气工业设备、钢铁产品、犯罪行为防范、流体存储装置、建筑构件、摄影技术、管道部件和管道、电信终端设备、电磁兼容性(EMC)、电容器、机上设备和仪器、半导体分立器件、集成电路、微电子学、航空器和航天器综合、音频、视频和视听工程、电子元器件综合。

在中国标准分类中,δ ct涉及到基础标准与通用方法、金属无损检验方法、X射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器、放射卫生防护、防爆电机、医用射线设备、发动机总体、热加工工艺、建筑物理、医学、通信网传输系统接口、电气系统与设备、导航通讯系统与设备、航天器控制导引系统、电影与摄影技术、计算机图形、感光材料、油、气集输设备、通信网设备互通技术要求和通信网接口、电子计算机应用、燃料油、电磁兼容、油、气集输、电容器、计量综合、无线电通信设备、基础标准与通用方法、涂料基础标准与通用方法、石油开采、石油钻井、半导体整流器件、半导体集成电路、信息处理技术综合、通信网综合、标准化、质量管理、广播、电视设备综合、基础标准与通用方法。


中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会,关于δ ct的标准

  • GB/T 35390-2017 无损检测 弹药密度工业计算机层析成像(CT)检测方法
  • GB/T 35386-2017 无损检测 工业计算机层析成像(CT)检测用密度分辨力测试卡
  • GB/T 35391-2017 无损检测 工业计算机层析成像(CT)检测用空间分辨力测试卡
  • GB/T 35386-2017 无损检测 工业计算机层析成像(CT)检测用密度分辨力测试卡
  • GB/T 34365-2017 无损检测 术语 工业计算机层析成像(CT)检测

国家质检总局,关于δ ct的标准

  • GB/T 29070-2012 无损检测 工业计算机层析成像(CT)检测 通用要求
  • GB/T 29071-2012 无损检测 火工装置工业计算机层析成像(CT)检测方法
  • GB/T 29034-2012 无损检测 工业计算机层析成像(CT)指南
  • GB/T 29067-2012 无损检测 工业计算机层析成像(CT)图像测量方法
  • GB/T 29068-2012 无损检测 工业计算机层析成像(CT)系统选型指南
  • GB/T 29069-2012 无损检测 工业计算机层析成像(CT)系统性能测试方法
  • GB/T 26835-2011 无损检测仪器 工业用X射线CT装置通用技术条件
  • GB/T 26593-2011 无损检测仪器.工业用X射线CT装置性能测试方法

卫生部国家职业卫生标准,关于δ ct的标准

中华人民共和国国家卫生和计划生育委员会,关于δ ct的标准

行业标准-机械,关于δ ct的标准

  • JB/T 7565.4-2015 隔爆型三相异步电动机技术条件 第4部分:YB3系列隔爆型(Ex d II CT1~T4)三相异步电动机(机座号63~355)

德国标准化学会,关于δ ct的标准

  • DIN 6858-1-2014 多模式成像的质量控制.第1部分:定期试验PET/CT
  • DIN 6858-1-2012 多模式成像的质量控制.第1部分:定期试验PET/CT
  • DIN EN 301796-2001 电磁兼容性和无线电光谱.与涵盖R&TTE指导性条款3.2相协调的CT1和CT1+无绳电话设备标准

行业标准-医药,关于δ ct的标准

法国标准化协会,关于δ ct的标准

  • NF Z84-175-4-2014 数字加强式无线通讯系统 (DECT); 通用接口 (CT). 第4部分: 数据链路控制 (DLC) 层 (V2.5.1)
  • NF Z84-175-7-2014 数字加强式无线通讯系统 (DECT); 通用接口 (CT). 第7部分: 安全特性 (V2.5.1)
  • NF Z84-175-8-2014 数字加强式无线通讯系统 (DECT); 通用接口 (CT). 第8部分: 语音和音频编码及传输 (V2.5.1)
  • NF Z84-175-3-2014 数字加强式无线通讯系统 (DECT); 通用接口 (CT). 第3部分: 媒体访问控制 (MAC) 层 (V2.5.1)
  • NF Z84-175-2-2014 数字加强式无线通讯系统 (DECT); 通用接口 (CT). 第2部分: 物理层 (PHL) (V2.5.1)
  • NF Z84-175-1-2014 数字加强式无线通讯系统 (DECT); 通用接口 (CT). 第1部分: 综述 (V2.5.1)
  • NF Z84-175-6-2014 数字加强式无线通讯系统 (DECT); 通用接口 (CT). 第6部分: 识别和寻址 (V2.5.1)
  • NF Z84-175-5-2014 数字加强式无线通讯系统 (DECT); 通用接口 (CT). 第5部分: 网络层 (NWK) (V2.5.1)
  • NF Z84-175-5-2012 数字加强式无线通讯系统(DECT);通用接口(CT).第5部分:网络层(NWK)(V2.4.1)
  • NF Z84-489-10-2002 电磁兼容性和射频频谱管理(ERM).无线电设备和业务电磁兼容性标准.第10部分:第1和第2代(CT1 and CT1+)无绳电话(CT2)电话设备规定条件

美国材料与试验协会,关于δ ct的标准

日本工业标准调查会,关于δ ct的标准

行业标准-航空,关于δ ct的标准

  • HB 20117-2012 航空发动机精铸叶片工业射线层析成像(CT)检测方法
  • HB 20118-2012 航空发动机用电子束焊接接头工业射线层析成像(CT)检测方法

美国国家标准学会,关于δ ct的标准

行业标准-卫生,关于δ ct的标准

美国机动车工程师协会,关于δ ct的标准

美国石油学会,关于δ ct的标准

  • API SPEC 5CT-2011 套管和井管规格.第9版.生效日期:2012年1月1日
  • API RP 934-E RUSSIAN-2010 在温度高于825℉(440℃)时用11/4Ct-1/2Mo压力容器的材料和装配的推荐实施规程
  • API SPEC 5CT-2005 套管和井管规范 第8版;采用ISO 11960:2004.有效日期20061月1日.勘误:20063月31日.勘误2:2006年4月7日
  • API SPEC 5CT-2002 套管和管道用规范.第7版.ISO 11960-2001.代替说明米制5CT/采用ISO 11960.勘误表4/01/2002
  • API SPEC 5CT-2001

美国电气电子工程师学会,关于δ ct的标准

  • IEEE N42.45-2011 X射线计算机断层扫描(CT)安全屏蔽系统的图像质量评定用美国国家标准
  • IEEE/ANSI N 42.45-2011 X射线计算机断层扫描(CT)安全屏蔽系统的图像质量评定用美国国家标准

国家计量技术规范,关于δ ct的标准

,关于δ ct的标准

国家计量检定规程,关于δ ct的标准

  • JJG 1026-2007 医用诊断螺旋计算机断层摄影装置(CT)X射线辐射源检定规程
  • JJG 961-2001 医用诊断计算机断层摄影装置(CT)X射线辐射源检定规程

行业标准-化工,关于δ ct的标准

英国标准学会,关于δ ct的标准

  • BS 8441-2-2006 健康信息学.医疗数字成像配置文件."M-IHE6-4.8MIS-CT"CT图像存储

行业标准-商品检验,关于δ ct的标准

  • SN/T 1672.2-2005 进出口医用设备检验规程 第2部分:全身螺旋CT扫描仪

国家军用标准-国防科工委,关于δ ct的标准

欧洲电信标准协会,关于δ ct的标准

  • ETSI EN 301 489-10-2002 电磁兼容性和无线频谱事务(ERM).无线电设备和业务的电磁兼容性(EMC)标准.第10部分:第1代(CT1和CT1+)和第2代无绳电话(CT2)设备的特殊条件
  • ETSI EN 301 489-10-2001 电磁兼容性和无线频谱事务(ERM).无线电设备和业务的电磁兼容性(EMC)标准.第10部分:第1代(CT1和CT1+)和第2代无绳电话(CT2)设备的特殊条件
  • ETSI EN 301 489-10-2000 电磁兼容性和无线频谱事务(ERM).无线电设备和业务的电磁兼容性(EMC)标准.第10部分:第1代(CT1和CT1+)和第2代无绳电话(CT2)设备的特殊条件
  • ETSI EN 301 796-2000 电磁兼容性和无线频谱事务(ERM).用于CT1和CT1+无绳电话设备包含导则R&TTE中条款3.2的基本要求的欧洲协调标准(版本1.1.1)

行业标准-电子,关于δ ct的标准

  • SJ 51314/2-2002 CT402型瓷介固定电容器详细规范
  • SJ 51314/1-2002 CT401型瓷介固定电容器详细规范
  • SJ 20179-1992 半导体分立器件.3CT103型反向阻断闸流晶体管.详细规范
  • SJ 20085-1992 CT8108型高压瓷介固定电容器详细规范
  • SJ 20093-1992 CT118型瓷介固定电容器详细规范
  • SJ 20092-1992 CT114型瓷介固定电容器详细规范
  • SJ 20091-1992 CT110型瓷介固定电容器详细规范
  • SJ 20090-1992 CT108型瓷介固定电容器详细规范
  • SJ 20089-1992 CT106型瓷介固定电容器详细规范
  • SJ 20088-1992 CT105型瓷介固定电容器详细规范
  • SJ 20087-1992 CT8112型高压瓷介固定电容器详细规范
  • SJ 20086-1992 CT8110型高压瓷介固定电容器详细规范
  • SJ 20180-1992 半导体分立器件.3CT105型反向阻断闸流晶体管.详细规范
  • SJ 20181-1992 半导体分立器件.3CT107型反向阻断闸流晶体管.详细规范
  • SJ 20182-1992 半导体分立器件.3CT682、683、685~692和3CT5206型反向阻断闸流晶体管.详细规范
  • SJ/T 10210-1991 电子元器件详细规范.CT41型多层片状瓷介电容器.评定水平E
  • SJ/T 10048-1991 电子元器件详细规范.半导体集成电路CT54LS169/CT74LS169型4位二进制同步加/减计数器
  • SJ/T 10086-1991 电子元器件详细规范.半导体集成电路CT54H183/CT74H183型双进位保留全加器
  • SJ/T 10085-1991 电子元器件详细规范.半导体集成电路CT54H74/CT74H74型双上升沿D触发器(有预置端、清除端)
  • SJ/T 10084-1991 电子元器件详细规范.半导体集成电路CT54H20/CT74H20型双4输入与非门
  • SJ/T 10083-1991 电子元器件详细规范.半导体集成电路CT54161/CT74161型4位二进制同步计数器(异步清除)
  • SJ/T 10082-1991 电子元器件详细规范.半导体集成电路CT54195/CT74195型4位移位寄存器(并行存取,J-K输入)
  • SJ/T 10081-1991 电子元器件详细规范.半导体集成电路CT54153/CT74153型双4选1数据选择器
  • SJ/T 10080-1991 电子元器件详细规范.半导体集成电路CT5442/CT7442型4线-10线译码器(BCD输入)
  • SJ/T 10079-1991 电子元器件详细规范.半导体集成电路CT54182/CT74182型超前进位产生器
  • SJ/T 10078-1991 电子元器件详细规范.半导体集成电路CT54107/CT74107型双主从J-K触发器(有清除端)
  • SJ/T 10047-1991 电子元器件详细规范.半导体集成电路CT54LS195/CT74LS195型4位移位寄存器(并行存取)
  • SJ/T 10046-1991 电子元器件详细规范.半导体集成电路CT54LS151/CT74LS151型8选1数据选择器
  • SJ/T 10045-1991 电子元器件详细规范.半导体集成电路CT54LS138/CT74LS138型3线—8线译码器
  • SJ/T 10044-1991 电子元器件详细规范.半导体集成电路CT54LS283/CT74LS283型4位二进制超前进位全加器
  • SJ/T 10043-1991 电子元器件详细规范.半导体集成电路.CT54LS112/CT74LS112型双下降沿J-K触发器(有预置端、清除端)
  • SJ/T 10042-1991 电子元器件详细规范.半导体集成电路.CT54LS00/CT74LS00型四2输入与非门
  • SJ/T 10814-1996 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1027型TTL三3输入与非门(可供认证用)
  • SJ/T 10813-1996 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1020型TTL双4输入与非门(可供认证用)
  • SJ/T 10812-1996 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1010型TTL三3输入与非门(可供认证用)
  • SJ/T 10811-1996 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1008型TTL四2输入与非门(可供认证用)
  • SJ/T 10810-1996 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1004型TTL六反相器(可供认证用)
  • SJ/T 10809-1996 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1002型TTL四2输入与非门(可供认证用)
  • SJ/T 10808-1996 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1000型TTL四2输入与非门(可供认证用)
  • SJ 1185-1977 彩色电视测量测试卡(CT752卡)
  • SJ/T 10958-1996 电子元器件详细规范 3CT320型管壳额定反向阻断三极晶体闸流管(可供认证用)
  • SJ/T 10995-1996 电子元器件详细规范 CT81型高压瓷介电容器 评定水平E(可供认证用)
  • SJ/T 10817-1996 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1054型TTL4路2-2-2-2输入与或非门(可供认证用)
  • SJ/T 10959-1996 电子元器件详细规范 3CT315型管壳额定雪崩三极晶体闸流管(可供认证用)
  • SJ/T 10876-1996 电子元器件详细规范 CT52型圆片穿心瓷介电容器(可供认证用)
  • SJ/T 10816-1996 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1040型TTL双4输入与非缓冲器(可供认证用)
  • SJ/T 10815-1996 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT1030型TTL8输入与非门(可供认证用)

行业标准-航天,关于δ ct的标准

行业标准-石油,关于δ ct的标准

加拿大标准协会,关于δ ct的标准

国际电信联盟,关于δ ct的标准

美国航空无线电设备公司,关于δ ct的标准

澳大利亚标准协会,关于δ ct的标准





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