载流子

本专题涉及载流子的标准有38条。

国际标准分类中,载流子涉及到金属材料试验、半导体材料、绝缘流体、无机化学、半导体分立器件、太阳能工程、有色金属。

在中国标准分类中,载流子涉及到金属物理性能试验方法、半金属与半导体材料综合、半金属及半导体材料分析方法、半导体二极管、、、半导体分立器件综合、半导体三极管、太阳能、半金属、元素半导体材料、稀有分散金属及其合金、化合物半导体材料、电子技术专用材料。


国家质检总局,关于载流子的标准

  • GB/T 36705-2018 氮化镓衬底片载流子浓度的测试 拉曼光谱法
  • GB/T 14863-2013 用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法
  • GB/T 26068-2010 硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法
  • GB/T 1553-2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
  • GB/T 14146-2009 硅外延层载流子浓度测定.汞探针电容-电压法
  • GB/T 11068-2006 砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法
  • GB/T 8757-2006 砷化镓中载流子浓度等离子共振测量方法
  • GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
  • GB/T 14863-1993 用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法
  • GB/T 14146-1993 硅外延层载流子浓度测定和探针电容--电压法
  • GB/T 11068-1989 砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法
  • GB/T 8757-1988 砷化镓载流子浓度等离子共振测量方法
  • GB/T 26068-2018 硅片和硅锭载流子复合寿命的测试 非接触微波反射光电导衰减法

工业和信息化部,关于载流子的标准

  • YS/T 679-2018 非本征半导体中少数载流子扩散长度的测试 表面光电压法

新疆维吾尔自治区质量技术监督局,关于载流子的标准

德国标准化学会,关于载流子的标准

  • DIN EN 62416-2010 半导体器件.MOS晶体管的热载流子试验(IEC 62416-2010);德文版本EN 62416-2010
  • DIN V VDE V 0126-18-4-2-2007 太阳能硅片.第4-2部分:硅电气特性的测量程序.实验室测量法测定少数载流子寿命
  • DIN V VDE V 0126-18-4-1-2007 太阳能硅片.第4-1部分:硅片电气特性的测量程序.联机测量法测定少数载流子寿命
  • DIN 50440-1998 半导体工艺材料的试验.硅单晶中载流子寿命的测量.用光电导法在微小喷射时测量复合载流子寿命

法国标准化协会,关于载流子的标准

英国标准学会,关于载流子的标准

  • BS EN 62416-2010 半导体器件.金属氧化物半导体(MOS)晶体管的热载流子试验

国际电工委员会,关于载流子的标准

行业标准-有色金属,关于载流子的标准

  • YS/T 679-2008 非本征半导体中少数载流子扩散长度的稳态表面光电压测试方法

韩国标准,关于载流子的标准

  • KS D 0257-2002 光电导衰减测量法测定硅单晶体少数载流子寿命的方法
  • KS D 0257-2002 光电导衰减测量法测定硅单晶体少数载流子寿命的方法
  • KS D 0265-1989 光电导衰减测量法.锗的少数载流子寿命的测量方法
  • KS D 0265-1989 光电导衰减测量法.锗的少数载流子寿命的测量方法

美国材料与试验协会,关于载流子的标准

  • ASTM F1392-2000 用带汞探针的容量-电压测量法测定硅晶片中净载流子密度分布的标准试验方法
  • ASTM F391-1996 通过测量稳态硅表面光致电压确定非本征半导体中少数载流子扩散长度的标准试验方法
  • ASTM F1393-1992(1997) 用带汞探针的铣床回授靠模工具机测量器测定硅中净载流子密度的测试方法

日本工业标准调查会,关于载流子的标准

  • JIS H0604-1995 用光电导衰减法测量硅单晶中少数载流子的寿命
  • JIS H0603-1978 用光电导衰减法测定锗中少数载流子寿命

行业标准-电子,关于载流子的标准

  • SJ 3244.1-1989 砷化镓和磷化铟材料霍尔迁移率和载流子浓度的测量方法
  • SJ 3248-1989 重掺砷化镓和磷化铟载流子浓度的红外反射测试方法
  • SJ 3244.4-1989 砷化镓和磷化铟材料载流子浓度剖面分布的测试方法.电化学电压电容法
  • SJ 2757-1987 重掺半导体载流子浓度的红外反射测试方法

,关于载流子的标准

  • GOST 18986.7-1973 半导体二极管.不平衡载流子存在有效时间的测定方法




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