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工业硅化学分析方法
本专题涉及工业硅化学分析方法的标准有18条。
国际标准分类中，工业硅化学分析方法涉及到金属材料试验、绝缘流体、有色金属。
在中国标准分类中，工业硅化学分析方法涉及到元素半导体材料、轻金属及其合金分析方法、半金属及半导体材料分析方法。
国家质检总局，关于工业硅化学分析方法的标准
- GB/T 14849.3-1993 工业硅化学分析方法 钙量的测定
- GB/T 14849.3-2007 工业硅化学分析方法 第3部分：钙含量的测定
- GB/T 14849.3-2020 工业硅化学分析方法 第3部分：钙含量的测定
- GB/T 14849.1-2020 工业硅化学分析方法 第1部分：铁含量的测定
- GB/T 14849.2-1993 工业硅化学分析方法 铬天青-S分光光度法测定铝量
- GB/T 14849.1-1993 工业硅化学分析方法 1,10-二氮杂菲分光光度法测定铁量
- GB/T 14849.6-2014 工业硅化学分析方法 第6部分:碳含量的测定 红外吸收法
- GB/T 14849.8-2015 工业硅化学分析方法 第8部分:铜含量的测定 原子吸收光谱法
- GB/T 14849.10-2016 工业硅化学分析方法 第10部分:汞含量的测定 原子荧光光谱法
- GB/T 14849.7-2015 工业硅化学分析方法 第7部分:磷含量的测定 磷钼蓝分光光度法
- GB/T 14849.2-2007 工业硅化学分析方法 第2部分：铝含量的测定 铬天青-S分光光度法
- GB/T 14849.5-2010 工业硅化学分析方法.第5部分：元素含量的测定.X射线荧光光谱法
- GB/T 14849.1-2007 工业硅化学分析方法 第1部分：铁含量的测定 1，10-二氮杂菲分光光度法
- GB/T 14849.11-2016 工业硅化学分析方法 第11部分:铬含量的测定 二苯碳酰二肼分光光度法
- GB/T 14849.5-2014 工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法
- GB/T 14849.9-2015 工业硅化学分析方法 第9部分:钛含量的测定 二安替吡啉甲烷分光光度法
- GB/T 14849.4-2008 工业硅化学分析方法.第4部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法测定元素含量
- GB/T 14849.4-2014 工业硅化学分析方法 第4部分:杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
