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击穿电压的测试方法

本专题涉及击穿电压的测试方法的标准有17条。

国际标准分类中,击穿电压的测试方法涉及到半导体分立器件、光电子学、激光设备、绝缘流体、建筑材料。

在中国标准分类中,击穿电压的测试方法涉及到半导体二极管、半导体发光器件、半导体光敏器件、绝缘油、电工绝缘材料及其制品。


行业标准-电子,关于击穿电压的测试方法的标准

  • SJ 2141-1982 硅稳流二极管击穿电压的测试方法
  • SJ 966-1975 硅开关二极管反向击穿电压的测试方法
  • SJ 2354.2-1983 PIN、雪崩光电二极管反向击穿电压的测试方法
  • SJ 2214.4-1982 半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法
  • SJ 2215.5-1982 半导体光耦合器(二极管)反向击穿电压的测试方法
  • SJ 2215.7-1982 半导体光耦合器集电极-发射极反向击穿电压的测试方法
  • SJ 2214.6-1982 半导体光敏三极管集电极.发射极反向击穿电压的测试方法

英国标准学会,关于击穿电压的测试方法的标准

国际电工委员会,关于击穿电压的测试方法的标准

丹麦标准化协会,关于击穿电压的测试方法的标准

韩国科技标准局,关于击穿电压的测试方法的标准

KR-KS,关于击穿电压的测试方法的标准

法国标准化协会,关于击穿电压的测试方法的标准





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