71.040.40 化学分析 标准查询与下载
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本标准规定了用水吸收法处理LED行业用氨气尾气的技术要求。 本标准适用于LED行业用氨气尾气的处理。
Guide for ammonia effluent handling in LED industry
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G86
- 发布
- 2017-12-29
- 实施
- 2018-04-01 00:00:00.0
Verification method for Auger electron spectrometers(AES)
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2017-12-29
- 实施
- 2018-11-01 00:00:00.0
Guide for gaseous effluent handling in semiconductor industry
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G86
- 发布
- 2017-11-01
- 实施
- 2018-02-01 00:00:00.0
Classification of the mixture gas—Part 1:Toxic classification
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G86
- 发布
- 2017-11-01
- 实施
- 2018-05-01 00:00:00.0
Determination of metal content in gases—Inductively coupled plasma mass spectrometry method
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G86
- 发布
- 2017-11-01
- 实施
- 2018-02-01 00:00:00.0
Test method of Cucumber green mottle mosaic virus by transmission electron microscopy
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2017-10-14
- 实施
- 2018-09-01 00:00:00.0
Surface chemical analysis—Depth profiling—Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2017-09-29
- 实施
- 2018-08-01 00:00:00.0
Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectrometers—Calibration of energy scales
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2017-09-07
- 实施
- 2018-01-01 00:00:00.0
Technical guideline for formic acid preparation from yellow phosphorus tail gas
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G86
- 发布
- 2017-09-07
- 实施
- 2018-04-01 00:00:00.0
Test method of gold and silver nanoparticle materials biological effect by transmission electron microscope
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2017-09-07
- 实施
- 2018-08-01 00:00:00.0
Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Phase analysis method of metal and alloy
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2017-09-07
- 实施
- 2018-08-01 00:00:00.0
Surface chemical analysis—Proposed procedure for certifying the retained areic dose in a working reference material produced by ion implantation
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2017-09-07
- 实施
- 2018-08-01 00:00:00.0
Microbeam analysis—Analytical transmission electron microscopy—Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2017-07-12
- 实施
- 2018-06-01 00:00:00.0
本标准规定了用于评估扫描电子显微镜(SEMD)生成的数字图像锐度的3 种方法:傅立叶变换(FT)法、衬度-梯度(CG)法.导数(DR)法。
Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Methods of evaluating image sharpness
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2017-05-31
- 实施
- 2018-04-01 00:00:00.0
Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Scanning electron microscope analysis of biological specimens
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2017-05-31
- 实施
- 2018-04-01 00:00:00.0
Methods of transmission electron microscope for biological specimen containing carbon nanomaterials involving biological effect
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2017-05-31
- 实施
- 2018-04-01 00:00:00.0
本标准规定了含铅玻璃化学成分分析的试样制备和玻璃中二氧化硅、氧化铅、三氧化二硼、三氧化二铝、三氧化二砷、氧化钡、氧化钙、氧化镉、氧化铈、三氧化二铬、三氧化二钴、氧化铜、总铁、氧化钾、氧化镁、氧化锂、二氧化锰、氧化钠、氧化镍、五氧化二磷、三氧化硫、三氧化二锑、氧化硒、氧化锡、氧化锶、二氧化钛、氧化锌、氧化锆、三氧化二钕等化学成分的分析方法。 本标准适用于含铅玻璃的化学分析以及化学组成类似的其他玻璃化学成分的分析。
Analytical method of the chemical composition in the glass containing lead
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- Q37
- 发布
- 2017-02-28
- 实施
- 2018-01-01 00:00:00.0
本标准介绍了利用表面分析技术能获得的纳米结构材料的信息种类，并给出一些例子(见第4章)。 本标准不仅指出了表征纳米结构材料时的普遍问题或难题，而且指出了使用特定方法时的特有途径或难题(见第5章)。当物体或材料组成部分的尺寸接近几个纳米时，“块体”“表面”和“颗粒”分析之间的差异就变得模糊不清。本标准除明确了表征纳米结构材料时的一些普遍问题外，它重点明确了与纳米结构材料表面化学分析具体相关的问题。本标准涉及多种分析和表征方法，但其重点仍是表面化学分析专业范围内的方法，包括俄歇电子能谱、X射线光电子能谱、二次离子质谱和扫描探针显微术等。纳米颗粒表面性质(如表面电势)的某些类型测量常常是在溶液中进行的，本标准不涉及这部分内容。 尽管纳米级厚度薄膜和均匀纳米颗粒集合有很多相似之处，但表征它们面临不同的难题。本标准举例说明了既适用于薄膜又适用于颗粒或纳米物体的表征方法。能确定的性质包括存在的污染、涂层的厚度和加工前后的表面化学性质。除明确能获得的信息种类外，本标准也概括了分析前或分析过程中必须考虑的普遍问题和特定技术问题，包括需确定的信息、稳定性和探针影响、环境影响、样品处理问题和数据的解释。 本标准介绍了使用一系列特定的表面分析方法可获得的纳米材料信息，但这些信息从本质上说不可能是完整的。然而，本标准提供了重要的途径、思路和问题，同时提供了很多参考文献以便于根据需要对这些问题进行更深入的分析研究。
Surface chemical analysis—Characterization of nanostructured materials
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2017-02-28
- 实施
- 2018-01-01 00:00:00.0
本标准规定了分析者使用X射线光电子能谱(XPS)分析试样后应报告信息的最低要求。包括原始记录和分析记录的信息。
Surface chemical analysis—Recording and reporting data in X-ray photoelectron spectroscopy（XPS）
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2017-02-28
- 实施
- 2018-01-01 00:00:00.0
本标准规定了痕量分析用气体的深度纯化技术。经纯化后气体的目标组分含量的体积分数低于0.01×10，压力为0.1 MPa～18 MPa，流量为0.1 L/min~100 L/min。 本标准适用于仪表校准用零点气、气相色谱分析所用的载气和标准气体的平衡气。本标准适用的气体为氧气、氢气、氮气、氦气、氖气、氩气、氪气、氙气。
Gas analysis—Guidelines for purification of gases for trace analysis instrument
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G86
- 发布
- 2016-12-30
- 实施
- 2018-01-01 00:00:00.0
