G04 基础标准与通用方法 标准查询与下载
共找到 1685 条与 基础标准与通用方法 相关的标准，共 113 页
Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry—Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2018-03-15
- 实施
- 2019-02-01 00:00:00.0
Determination of moisture in solid chemical products－Thermogravimetry method
- ICS
- 71.040.01
- CCS
- G04
- 发布
- 2018-02-06
- 实施
- 2018-09-01 00:00:00.0
General rule for liquid chromatography-mass spectrometry
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2018-02-06
- 实施
- 2018-09-01
本标准规定了用热重法测定化工产品饱和蒸气压的方法。 本标准适用于饱和蒸气压值在1-10 Pa~1Pa范围内的所有固体和液体。 测量时化工产品中的杂质对蒸气压结果有一定的影响。 2 试验方法原理
Determination of vapor pressure of chemical products—Thermogravimetry method
- ICS
- 71.040.01
- CCS
- G04
- 发布
- 2018-02-06
- 实施
- 2018-09-01 00:00:00.0
Verification method for Auger electron spectrometers(AES)
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2017-12-29
- 实施
- 2018-11-01 00:00:00.0
Test method of Cucumber green mottle mosaic virus by transmission electron microscopy
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2017-10-14
- 实施
- 2018-09-01 00:00:00.0
Surface chemical analysis—Depth profiling—Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2017-09-29
- 实施
- 2018-08-01 00:00:00.0
Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Phase analysis method of metal and alloy
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2017-09-07
- 实施
- 2018-08-01 00:00:00.0
Test method of gold and silver nanoparticle materials biological effect by transmission electron microscope
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2017-09-07
- 实施
- 2018-08-01 00:00:00.0
Surface chemical analysis—Proposed procedure for certifying the retained areic dose in a working reference material produced by ion implantation
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2017-09-07
- 实施
- 2018-08-01 00:00:00.0
Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectrometers—Calibration of energy scales
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2017-09-07
- 实施
- 2018-01-01 00:00:00.0
Microbeam analysis—Analytical transmission electron microscopy—Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2017-07-12
- 实施
- 2018-06-01 00:00:00.0
Determination of perfluorooctane sulfonates (PFOS) and surfluorooctanoic acid (PFOA) in separation membranes—Liquid chromatography tandem mass spectrometry method
- ICS
- CCS
- G04
- 发布
- 2017-07-12
- 实施
- 2018-02-01
Determination of perfluorooctane sulfonates(PFOS) and perfluorooctanoic acid(PFOA) for separation membranes—Liquid chromatography-tandem mass spectrometry method
- ICS
- 71.040.50
- CCS
- G04
- 发布
- 2017-07-12
- 实施
- 2018-02-01 00:00:00.0
Methods of transmission electron microscope for biological specimen containing carbon nanomaterials involving biological effect
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2017-05-31
- 实施
- 2018-04-01 00:00:00.0
Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Scanning electron microscope analysis of biological specimens
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2017-05-31
- 实施
- 2018-04-01 00:00:00.0
本标准规定了用于评估扫描电子显微镜(SEMD)生成的数字图像锐度的3 种方法:傅立叶变换(FT)法、衬度-梯度(CG)法.导数(DR)法。
Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Methods of evaluating image sharpness
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2017-05-31
- 实施
- 2018-04-01 00:00:00.0
本标准规定了分析者使用X射线光电子能谱(XPS)分析试样后应报告信息的最低要求。包括原始记录和分析记录的信息。
Surface chemical analysis—Recording and reporting data in X-ray photoelectron spectroscopy（XPS）
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2017-02-28
- 实施
- 2018-01-01 00:00:00.0
本标准介绍了利用表面分析技术能获得的纳米结构材料的信息种类，并给出一些例子(见第4章)。 本标准不仅指出了表征纳米结构材料时的普遍问题或难题，而且指出了使用特定方法时的特有途径或难题(见第5章)。当物体或材料组成部分的尺寸接近几个纳米时，“块体”“表面”和“颗粒”分析之间的差异就变得模糊不清。本标准除明确了表征纳米结构材料时的一些普遍问题外，它重点明确了与纳米结构材料表面化学分析具体相关的问题。本标准涉及多种分析和表征方法，但其重点仍是表面化学分析专业范围内的方法，包括俄歇电子能谱、X射线光电子能谱、二次离子质谱和扫描探针显微术等。纳米颗粒表面性质(如表面电势)的某些类型测量常常是在溶液中进行的，本标准不涉及这部分内容。 尽管纳米级厚度薄膜和均匀纳米颗粒集合有很多相似之处，但表征它们面临不同的难题。本标准举例说明了既适用于薄膜又适用于颗粒或纳米物体的表征方法。能确定的性质包括存在的污染、涂层的厚度和加工前后的表面化学性质。除明确能获得的信息种类外，本标准也概括了分析前或分析过程中必须考虑的普遍问题和特定技术问题，包括需确定的信息、稳定性和探针影响、环境影响、样品处理问题和数据的解释。 本标准介绍了使用一系列特定的表面分析方法可获得的纳米材料信息，但这些信息从本质上说不可能是完整的。然而，本标准提供了重要的途径、思路和问题，同时提供了很多参考文献以便于根据需要对这些问题进行更深入的分析研究。
Surface chemical analysis—Characterization of nanostructured materials
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2017-02-28
- 实施
- 2018-01-01 00:00:00.0
本标准规定了采用辉光放电质谱(GD-MS)法测量多晶硅中杂质元素的测试方法。 本标准适用于多晶硅材料中除氢和惰性气体元素以外的其他杂质元素含量的测定，测量范围是本方法的检出限至0.1%(质量分数)，检出限根据所用仪器及测量条件确定。通过合适的标准样品校正，也可以测量质量分数大于0.1%的杂质元素含量。单晶硅材料中痕量杂质元素也可参照本标准测量。
Polycrystalline silicon—Determination of trace elements—Glow discharge mass spectrometry method
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- G04
- 发布
- 2016-12-13
- 实施
- 2017-11-01 00:00:00.0
