H17 半金属及半导体材料分析方法 标准查询与下载

GB/T 8757-2006 砷化镓中载流子浓度等离子共振测量方法

本标准适用于掺杂化镓单晶中载流子浓度的测量。测量范围： n-GaAs 1.0*10cm～1.0*10cm p-GaAs 2.0*10cm～1.0*10cm

Determination of carrier concentration in gallium arsenide by the plasma resonance minimum

GB/T 5252-2006 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法

本标准适用于位错密度0cm～100000cm的n型和p型锗单晶棒或片的位错密度或其他缺陷的测量。观察面为（111）、（100）和（113）面。

Germanium monocrystal.Inspection of dislocation etch pit density

GB/T 4700.4-1998 硅钙合金化学分析方法 磷钼蓝分光光度法测定磷量

本标准规定了用磷钼蓝分光光度法测定磷量。 本标准适用于硅钙合金中磷量的测定，测定范围：≤0.06％。

Methods for chemical analysis of calcium-silicon The phosphomolybdenum blue photometric method for the determination of phosphorus content

GB/T 4700.7-1998 硅钙合金化学分析方法 红外线吸收法和燃烧碘酸钾滴定法测定硫量

本标准规定了用红外线吸收法及燃烧碘酸钾滴定法测定硫量。 本标准适用于硅钙合金中硫量的测定。测定范围：0.005％～0.070％。

Methods for chemical analysis of calcium-silicon The infrared absorption method and the combustion-potassium iodate titration method for the determination of sulfur content

GB/T 4700.5-1998 硅钙合金化学分析方法 红外线吸收法测定碳量

本标准规定了红外线吸收法测定碳量。 本标准适用于硅钙合金中碳量的测定。测定范围：0.025%～1.200%。

Methods for chemical analysis of calcium-silicon The infrared absorption method for the determination of carbon content

GB/T 4700.3-1984 硅钙合金化学分析方法 EDTA滴定法测定铝量

本标准适用于硅钙合金中铝量的测定。测定范围：0.50～3.00％。

Methods for chemical analysis of calcium-silicon--The EDTA titrimetric method for the determination of aluminum content

GB/T 4700.1-1984 硅钙合金化学分析方法 高氯酸脱水重量法测定硅量

本标准适用于硅钙合金中硅量的测定。测定范围：大于50.00％。

Methods for chemical analysis of calcium-silicon--The perchloric acid dehydration-gravimetric method for the determination of silicon content

GB/T 4699.3-1984 硅铬合金化学分析方法 钼蓝光度法测定磷量

本标准适用于硅铬合金中磷量的测定，测定范围：0.010～0.060％。

Methods for chemical analysis of silicochromium--The molybdenum blue photometric method for the determination of phosphorus content

GB/T 4699.2-1984 硅铬合金化学分析方法 碱熔-过硫酸铵氧化容量法测定铬量

本标准适用于硅铬合金中铬量的测定。测定范围：25.00～50.00％。

Methods for chemical analysis of silicochromium--The alkaline fusion-ammonium persulfate oxidation volumetric method for the determination of chromium content

GB/T 4699.1-1984 硅铬合金化学分析方法 重量法测定硅量

本标准适用于硅铬合金中硅量的测定。测定范围：8.00～95.00％。

Methods for chemical analysis of silicochromium--The gravimetric method for the determination of silicon content

GB/T 4373.3-1984 砷化学分析方法 硫酸钡重量法测定硫量

本标准适用于砷中硫量的测定。测定范围：0.10～0.50％。

Methods for chemical analysis of arsenic--The barium sulphate gravimetric method for the determination of sulphur content

GB/T 4373.2-1984 砷化学分析方法 孔雀绿光度法测定锑量

本标准适用于砷中锑量的测定。测定范围：0.010～0.450％。

Methods for chemical analysis of arsenic--The malachite green photometric method for the determination of antimony content

GB/T 4373.1-1984 砷化学分析方法 溴酸钾容量法测定砷量

本标准 适用于砷中砷量的测定。测定范围：98.00～99.80％。

Methods for chemical analysis of arsenic--The potassium bromate volumetric method for the determination of arsenic content

GB/T 4373.4-1984 砷化学分析方法 二硫代二安替吡啉基甲烷光度法测定铋量

本标准适用于砷中铋量的测定。测定范围：0.010～0.200％。

Methods for chemical analysis of arsenic--The dithio-diantipyrylmethane photometric method for the determination of bismuth content

GB/T 4298-1984 半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法

本标准适用于单晶硅、多晶硅中金属杂质元素和非金属杂质元素含量的测定。

The activation analysis method for the determination of elemental impurities in semiconductor silicon materials

YS/T 38.3-2023 高纯镓化学分析方法 第3部分：痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法

Methods for chemical analysis of high purity gallium—Part 3：Determination of trace impurity elements contents—Glow discharge mass spectrometry

YS/T 1601-2023 六氯乙硅烷中杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法

etermination of impurity content in hexachlorodisilane—Inductively coupled plasma mass spectrometry

YS/T 1600-2023 碳化硅单晶中痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法

Determination of trace impurity elements in silicon carbide single crystal —Glow discharge mass spectrometry

YS/T 987-2021 氯硅烷中碳含量的测定 气相色谱质谱联用法

Determination of carbon content in chlorosilanes by gas chromatography mass spectrometry

YS/T 1509.1-2021 硅碳复合负极材料化学分析方法 第1部分：硅含量的测定 重量法和分光光度法

Methods for chemical analysis of silicon-carbon composite anode materials Part 1: Determination of silicon content by gravimetric and spectrophotometric methods