H82 元素半导体材料 标准查询与下载

DIN 50433-1:1976 无机半导体材料的检验.第1部分:采用X射线衍射现象对单晶体取向的测定

Testing of semi-conducting inorganic materials; determining the orientation of single crystals by means of X-ray diffractionEssai de matériaux semi-conducteurs minéraux; détermination de l'orientation de monocristaux par diffraction de rayons X

Testing of semi-conducting inorganic materials; determining the orientation of single crystals by means of X-ray diffraction

JIS H 0601:1962 锗的电阻率测试方法

この規格は，単結品ゲルマニウムの抵抗率を測定する方法について規定する。なお，多結晶ゲルマニウムもこの試験方法を準用することができるが，その場合は結晶境界における影響を考慮して評価しなければならなぃ。

Testing methods of resistivity for germanium

YB 1602-83 硅单晶

Silicon single crystal

YB 1602-1983 硅单晶

Silicon single crystal

YB 1603-83 硅单晶切割片和研磨片

Silicon single crystal cutting discs and grinding discs

YB 1601-83 硅多晶

Silicon polycrystalline

YB 1601-1983 硅多晶

Silicon polycrystalline