L32 标准查询与下载
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本标准规定了型材散热器的型号编制方法、品种规格和技术要求。
Heat sink of semiconductor devices--Heat sink, Extruded shapes
- ICS
- 31.240
- CCS
- L32
- 发布
- 1987-03-16
- 实施
- 1987-11-01
Semiconductor device heat sink interdigitated heat sink
- ICS
- CCS
- L32
- 发布
- 1987-03-16
- 实施
- 1987-11-01
Semiconductor device heat sink profile heat sink
- ICS
- CCS
- L32
- 发布
- 1987-03-16
- 实施
- 1987-11-01
本标准规定了半导体器件散热器的型号编制方法、技术要求、试验方法、检验规则及包装、标志、运输和贮存。 本标准适用于电子设备用半导体器件（以下简称器件）散热器。
Heat sink of semiconductor devices--Generic specification
- ICS
- CCS
- L32
- 发布
- 1987-03-16
- 实施
- 1987-11-01
本标准规定了叉指形散热器的型号编制方法、品种规格和技术要求。
Heat sink of semiconductor devices--Heat sink, staggered fingers shapes
- ICS
- 31.240
- CCS
- L32
- 发布
- 1987-03-16
- 实施
- 1987-11-01
Test method of microwave complex permittivity of solid dielectric "open cavity" method
- ICS
- CCS
- L32
- 发布
- 1987-02-13
- 实施
- 1987-11-01
本标准测试对象是固体电介质材料。
Test method for the complex permittivity of solid dielectric materials at microwave frequencies--
- ICS
- CCS
- L32
- 发布
- 1987-02-13
- 实施
- 1987-11-01
Test Method for Microwave Complex Permittivity of Solid Dielectric Perturbation Method
- ICS
- CCS
- L32
- 发布
- 1987-02-13
- 实施
- 1987-11-01
Test method for complex permittivity of solid dielectric materials at microwave frequencies--Perturbation method
- ICS
- 33.120
- CCS
- L32
- 发布
- 1987-02-13
- 实施
- 1987-11-01
本方法适用于微波固体电介质复介电常数的测量。 适用频率范围：f＝（2～18）GHz 测试范围：ε′＝2～10 tanδε＝1×10～5×10
Test method for complex permittivity of solid dielectric materials at microwave frequencies--Perturbation method
- ICS
- CCS
- L32
- 发布
- 1987-02-13
- 实施
- 1987-11-01
本标准适用于释汞吸气剂的总释汞量、标准释汞量、释汞特性曲线及热稳定性的测试。测试条件应符合SJ2156-82《吸气剂性能测试方法通则》中的有关规定。
Test methods for the characteristics of getter-mercury dispenser--Test methods for mercury yield characteristic of getter mercury dispenser
- ICS
- 31.030
- CCS
- L32
- 发布
- 1986-07-25
- 实施
- 1987-07-01
本标准适用于掺氮吸气剂载料中含氮量的测试。测试条件应符合SJ2155-82《吸气剂性能测试方法通则》中的有关规定。
Test methods for nitrogen content of nitrogen-doped getter
- ICS
- 31.030
- CCS
- L32
- 发布
- 1986-07-25
- 实施
- 1987-07-01
本标准适用于释汞吸气剂压粉牢固度的检测:检测条件应符合SJ 2156-82《吸气剂性能测试方法通则》中的有关规定。
Test methods for the characteristics of getter-mercury dispenser--Method for peel off test of getter-mercury dispenser
- ICS
- CCS
- L32
- 发布
- 1986-07-25
- 实施
- 1987-07-01
本标准适用于释汞吸气剂放气量的测试。测试条件应符合SJ2156-82《吸气剂性能测试方法通则》中的有关规定。
Test methods for the characteristics of getter-mercury dispenser--Test method for gas emission of getter mercury dispenser
- ICS
- CCS
- L32
- 发布
- 1986-07-25
- 实施
- 1987-07-01
本标准适用于释汞吸气剂含汞量的测试，测试条件应符合SJ2156-82《吸气剂性能测试方法通则》中的有关规定。
Test methods for the characteristics of getter-mercury dispenser--Test method for mercury content of getter-mercury dispenser
- ICS
- 31.030
- CCS
- L32
- 发布
- 1986-07-25
- 实施
- 1987-07-01
本标准适用于镍带或覆镍铁带与钛汞合金粉和锆铝合金粉轧制成的复合带材，供荧光灯、闸流管等作释汞吸气元件用。
Mercury releasing combined strips for getter
- ICS
- 77.120
- CCS
- L32
- 发布
- 1986-06-07
- 实施
- 1987-04-01
本标准适用于在各种等高槽形金属环内和碟形片上压制锆铝合金粉而生产的吸气用锆铝合金环件和片件，供电光源、电子管、真空储存器和吸气泵等吸气元件用。
Rings and tablets of zirconium-aluminium alloy for getter
- ICS
- 77.120.10
- CCS
- L32
- 发布
- 1986-06-07
- 实施
- 1987-04-01
本标准适用于在镍、覆镍铁带等金属基带上压制锆铝合金粉生产的各种规格复合带材，供电子管、电光源器件、吸气泵等做吸气元件用。
Zirconium-aluminium alloy combined strips for getter
- ICS
- 77.120.10
- CCS
- L32
- 发布
- 1986-06-07
- 实施
- 1987-04-01
本标准规定了荧光粉材料生产、性能测试和科研、教学中的常用名词术语的定义。
Terms for phosphors
- ICS
- 31.030
- CCS
- L32
- 发布
- 1986-01-29
- 实施
- 1986-12-01
本标准适用于电子元器件结构陶瓷室温下气密性的测试。
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for gas-tightness
- ICS
- 31.030
- CCS
- L32
- 发布
- 1985-11-27
- 实施
- 1986-12-01
