L32 标准查询与下载
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本标准适用于电子元器件结构陶瓷中的氧化铝、氧化铍陶瓷材料的化学稳定性测定。 标准不适用于测定镁橄榄石、莫来石、滑石等陶瓷材料的化学稳定性。
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for chemical durability
- ICS
- 31.030
- CCS
- L32
- 发布
- 1985-11-27
- 实施
- 1986-12-01
本标准适用于测定电子元器件结构陶瓷材料在频率1MHz，温度从室温至500℃条件下的介质损耗角正切值。
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for dielectric loss angle tangent value
- ICS
- 31.030
- CCS
- L32
- 发布
- 1985-11-27
- 实施
- 1986-12-01
本标准适用于测量室温至800℃各个阶段中电子元器件结构陶瓷的平均线膨胀系数。
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for mean coefficient of linear expansion
- ICS
- 31.030
- CCS
- L32
- 发布
- 1985-11-27
- 实施
- 1986-12-01
本标准适用于室温下电子元器件结构陶瓷材料的杨氏弹性模量、切变模量和泊松比的测量。
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for Young's elastic modulus and Poisson ratio
- ICS
- 31.030
- CCS
- L32
- 发布
- 1985-11-27
- 实施
- 1986-12-01
Test methods for performance of structural ceramic materials for electronic components Test methods for volume resistivity
- ICS
- CCS
- L32
- 发布
- 1985-11-27
- 实施
- 1986-12-01
Test method for performance of structural ceramic materials for electronic components Test method for Young's modulus of elasticity and Poisson's ratio
- ICS
- CCS
- L32
- 发布
- 1985-11-27
- 实施
- 1986-12-01
Performance test methods for structural ceramic materials of electronic components Test methods for air tightness
- ICS
- CCS
- L32
- 发布
- 1985-11-27
- 实施
- 1986-12-01
本标准方法适用于氧化铍瓷导热系数的测定。同时亦适用于低导热的氧化铝瓷等陶瓷导热系数的测定。其温度范围为40～150℃。
Test method for thermal conductivity of beryllium oxide ceramics
- ICS
- 29.040.20
- CCS
- L32
- 发布
- 1985-11-27
- 实施
- 1986-12-01
本标准适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。 本标准只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Determination of microstructure
- ICS
- 31.030
- CCS
- L32
- 发布
- 1985-11-27
- 实施
- 1986-12-01
本标准适用于氧化铝瓷，氧化铍瓷，镁橄榄石瓷等电子陶瓷透液性的检验。
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for liquid permeability
- ICS
- 31.030
- CCS
- L32
- 发布
- 1985-11-27
- 实施
- 1986-12-01
本标准适用于彩色显象管红基色显示用荧光粉。
Phosphors for color picture tubes use--Phosphor Y22-R4
- ICS
- 31.030
- CCS
- L32
- 发布
- 1984-11-27
- 实施
- 1985-08-01
本标准适用于彩色显象管蓝基色显示用荧光粉。
Phosphors for color picture tubes use--Phosphor Y22-B2
- ICS
- 31.030
- CCS
- L32
- 发布
- 1984-11-27
- 实施
- 1985-08-01
本标准适用于彩色显象管绿基色显示用荧光粉。
Phosphors for color picture tubes use--Phosphor Y22-G3
- ICS
- 31.030
- CCS
- L32
- 发布
- 1984-11-27
- 实施
- 1985-08-01
Photoluminescent Powder Test Method
- ICS
- 31-030
- CCS
- L32
- 发布
- 1983-12-24
- 实施
- 1984-11-01
Cathode ray phosphor test method
- ICS
- 31-030
- CCS
- L32
- 发布
- 1983-12-24
- 实施
- 1984-11-01
Measurement method of bulk density of piezoelectric ceramic materials
- ICS
- CCS
- L32
- 发布
- 1981-10-01
- 实施
- 1981-10-01
Piezoelectric ceramic materials--Measuring methods for determination of volume density
- ICS
- 31-030
- CCS
- L32
- 发布
- 1980-12-31
- 实施
- 1981-10-01
Measurement method of bulk density of piezoelectric ceramic materials
- ICS
- CCS
- L32
- 发布
- 1980-12-31
- 实施
- 1981-10-01
本标准规定了深度包检测设备的测试方法，包括：接口测试、组网方式测试、QoS测试、业务识别功能测试、业务控制功能测试、可靠性测试、可扩展性测试、统计报表功能测试、管理功能测试、附加功能测试和性能测试。 本标准适用于深度包检测设备，其他集成深度包检功能的网络设备也可参考使用。
Test Method of Deep Packet Inspection Device
- ICS
- 33.040.40
- CCS
- L32
- 发布
- 2009-06-15
- 实施
- 2009-09-01
APPENDIX A SYSTEM LAYOUT ILLUSTRATIONS
Traps, Interceptors, Separators and Backwater Valves
- ICS
- 31.220
- CCS
- L32
- 发布
- 1993-01-01
- 实施
