衍射双束如何分析 标准查询与下载
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本标准规定了电子背散射衍射分析方法”本标准适用于安装了电子背散射衍射附件的扫描电镜和电子探针进行物相识别、晶体取向、显微织构以及晶界特性等方面的分析
Microbeam analysis.General guide for electron backscatter diffraction analysis
本标准给出了使用电子背散射衍射(EBSD)技术进行晶体取向测量的指南,使测量数据具有较高的可靠性和重复性,本标准确立了试样制备、仪器配置、校正以及数据采集的一般原则。本标准适用于EBSD对块状晶体样品的晶粒取向分析
Microbeam analysis.Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction
METHODS FOR DETERMINATION OF CARBON IN TANTALUM
METHODS FOR DETERMINATION OF ALUMINIUM IN TANTALUM
X-ray fluorescence spectrometric analysis for iron ores
Microbeam Analysis — Electron Backscattered Electron Diffraction — Vocabulary
本文件规定了采用电子背散射衍射(e l e c t r onba cks c a t t e rd i f f r a c t i on,EBSD)法测量钢中奥氏体体积分数和形态的方法、设备、取样和试样制备、测量步骤、数据处理和检验报告。 本文件适用于分析含有晶粒尺寸50nm 以上奥氏体的中、低碳钢
Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Quantitative determination of austenite in steel
METHOD FOR DETERMINATION OF NIOBIUM AND TANTALUM IN ORES
本标准规定了用透射电子显微镜(TEM)对薄晶体试样的微米和亚微米尺寸区域进行选区电子衍射分析的方法。被测试样可以从各种金属或非金属材料的薄切片获得,也可以采用细微的粉末或萃取复型试样。应用本方法可分析的最小试样选区直径取决于显微镜物镜的球差系数,对于现代TEM,试样的最小选区直径一般可达到0.5
Microbeam analysis.Analytical electron microscopy.Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope
METHODS FOR DETERMINATION OF ARSENIC IN IRON ORES
This Korean Industrial Standard specifies the Methods for determination of arsenic in iron ores. Remark ISO 7384 : 1987, Iron ores- Determination
METHODS FOR DETERMINATION OF ARSENIC IN IRON ORES
本文件描述了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。 本文件适用于测定线度为几十纳米至几百微米、厚度在几十纳米至几百纳米范围内的薄晶体试样厚度。 注:由于透射电子显微镜薄试样的厚度往往不均匀,用会聚束衍射方法测定的是试样被电子束照明区的局域厚度
Microbeam analysis—Method of thickness measurement for thin crystals by convergent beam electron diffraction
Microbeam Analysis - Guidelines for Orientation Measurement by Backscattered Electron Diffraction
Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Phase analysis method of metal and alloy
本标准规定了用电子背散射衍射法(EBSD)对抛光截面进行平均晶粒尺寸的测定方法,包含与晶体试样中的位置相关的取向、取向差和花样质量因子的测量要求[1]。 注1:使用光学显微镜测定晶粒尺寸已为大家普遍接受,与其相比,EBSD具有很多技术优势,如高的空间分辨率和晶粒取向的定量描述等。 注2:该方法还可用
Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Measurement of average grain size
