A42 物理学与力学 标准查询与下载



共找到 1111 条与 物理学与力学 相关的标准,共 75

Nanotechnology: Measurement method of carrier mobility and sheet resistance of sub-nanometer thickness graphene films

ICS
71.040.50
CCS
A42
发布
2024-03-15
实施
2024-07-01

Nanotechnology Terminology Part 12: Quantum Phenomena in Nanotechnology

ICS
07.120
CCS
A42
发布
2023-05-23
实施
2023-12-01

本文件描述了离子束辐照诱导应变技术构建三维纳米结构与器件的加工方法,主要包括加工原理、材料与设备、环境条件、加工方法。 本文件适用于离子束辐照诱导直立纳米线和平面纳米薄膜的空间应变,进而实现三维空间中由一维纳米线和二维纳米薄膜构成的三维纳米结构与器件。

Nanotechnology—Fabrication of three dimensional nanostructures and devices—A strain method induced by ion beam irradiation

ICS
07.030
CCS
A42
发布
2022-12-30
实施
2023-07-01

Evaluation of photothermal effect of gold nanorods

ICS
CCS
A42
发布
2015-09-11
实施
2016-10-01

本标准规定了金纳米棒光热效应评价的原理、仪器部件、样品制备、测试步骤和数据处理。 本标准适用于金纳米棒溶胶体系光热效应的评价,其他贵金属纳米颗粒溶胶体系的光热效应评价亦可参照本标准执行。

Evaluation of photothermal effect of gold nanorods

ICS
71.040.50
CCS
A42
发布
2015-09-11
实施
2016-10-01

本标准界定了仪器化纳米压入试验在基础通用、仪器特性、力学测量、参数识别、试验样品、测试设定方面所涉及的常用术语及其定义。本标准主要适用于仪器化纳米压人试验,也可拓宽至仪器化压入试验。

Instrumented nanoindentation test.Terminology

ICS
19.060
CCS
A42
发布
2014-09-30
实施
2015-04-15

GB/T30113 的本部分规定「空间微求和方法。 重力流休物理实验阴影、纹影测量系统设i十和测试的原贝U、要本部分适用于在空间微亘力环境中使用的,航天器载荷的阴影、纹影测量系统的设计和测试,落塔、抛物线飞机和地而实验的阴影、纹影测量系统设计和测试也可参考使用”

Optical measurement methods on flow field in microgravity fluid physics.Part 1:Shadowgraph and schlieren

ICS
17.020
CCS
A42
发布
2013-12-17
实施
2014-07-15

本标准确定了摩擦学常用术语及其定义或定义性说明、本标准适用于摩擦学及其相关领域的技术标准、技术文件、教材、书刊的编写和翻译,以及摩擦学科研、教学、学术交流和工程应用、

Tribology terminology

ICS
01.040.07
CCS
A42
发布
2012-12-31
实施
2013-10-01

Instrumented nanoindentation test—Indentation hardness and modulus of thin film

ICS
CCS
A42
发布
2011-01-10
实施
2011-05-01

本标准规定了测试薄膜的压入硬度和弹性模量的仪器化纳米压入试验方法。 本标准适用于附着在固体表面的薄膜。压入方向为垂直于试样表面方向,压入深度范围通常纳米量级,也可以扩展到几微米。

Instrumented nanoindentation test.Indentation hardness and modulus of thin film

ICS
19.060
CCS
A42
发布
2011-01-10
实施
2011-05-01

本标准规定了对仪器化纳米压入试验用仪器的能力要求和试验的基本方法,还规定了对仪器校准和检验、压头、标准样品的要求,以及仪器柔度和压头面积函数的确定方法,并给出了确定硬度和材料参数所需的数据分析方法和压头使用的注意事项。 本标准适用于测试各种体材料和薄膜的硬度、模具等,其压入深度范围通常在纳米量级,也可以扩展至几微米。

General rules of instrumented nanoindentation test

ICS
19.060
CCS
A42
发布
2008-10-29
实施
2009-05-01

General rules of instrumented nanoindentation test

ICS
CCS
A42
发布
2008-10-29
实施
2009-05-01

本标准规定了颗粒物粒度分布/纤维长度和直径分布的测量方法。 A和也两种方法均可用于纯品或商业产品。 方法A 测定颗粒物粒度分布(有效流体动力学半径),仅适用于不溶于水(小于 10。 g/L)的粉末状 产品。 方法 B 测定纖維長度和直徑分布,僅适用于纖維狀產品。應考慮顆粒形狀不純帶來的影響。 指導性信息:方法 A——熔點,;方法 B——熔點。

Particle Size Distribution/Fiber Length and Diameter Distribution

ICS
CCS
A42
发布
2008-06-19
实施
2009-02-01

本标准规定了金属和非金属多晶体材料的平均晶粒度、截距和晶粒面积分布的基本测量方法。 本标准适用于等轴型和伸长型晶粒结构的单一相和双相系试样。 本标准同样适用于其他类似晶型结构的物质,如蜂窝结构的物质。 本标准需要使用半自动或全自动图像分析仪器。 本标准仅作为推荐性试验方法,它不能确定受检验材料是否接受或适合适用的范围。 本标准未考虑与试验相关的所有安全问题。试验人应自己负责与安全及健康相关的措施。

Standard test methods for determining average grain size using semiautomatic and automatic image analysis

ICS
13.300
CCS
A42
发布
2008-05-12
实施
2008-09-01

本标准规定了橡胶和塑料以及它们为基础的复合材料纵波声速和衰减系数的测量方法。 本标准适用的频率范围为1~10MHz。

Acoustics-Methods for measuring the longitudinal sound speed and attenuation coefficient of rubbers and plastics in the frequency range 1MHz to 10MHz

ICS
17.140.01
CCS
A42
发布
2000-03-16
实施
2000-12-01

本标准确定了摩擦学常用术语及其定义或定义性说明。 本标准适用于摩擦学及其相关领域的技术标准、技术文件、教材、书刊的编写和翻译,以及摩擦学科研、应用、数学和学术交流。

Tribology terminology

ICS
01.040.07
CCS
A42
发布
1999-05-19
实施
1999-12-01

本标准规定在下列使用条件下校准测听设备的基准听阈。 a)听者不在时的声场由一自由平面行波(自由场)或一扩散场构成。若为自由平面行波,声源应在听者正前方(正入射)。 注1:有关自由场测听所选声入射角偏离正入射时听阈的修正值,见GB/T16403。 b)若为自由场,声信号应为纯(正弦)音,若为扩散场,则应为1/3倍频带(白或粉红)噪声。 c)声压级的测量应在听者不在时其头部的中心位置(两耳外耳道口联线的中点)。 d)双耳收听。 e)对应于基准听阈的声压级由一组人数合适的听者阈限的中数值确定。 f)听者应为耳科正常人,年龄在18~25岁。 注2:导出本标准所定基准的听者,其听阈级按GB4854.1为10dB或小于10dB。这一选择标准与导出GB4854.1基准所用的不同。 g)听阈的确定用GB/T16403规定的升降法或上升法。

Acoustics--Reference zero for the calibration of audiometric equipment--Part 7: Reference threshold of hearing under free-field and diffuse-field listening conditions

ICS
17.140.01
CCS
A42
发布
1999-03-08
实施
1999-09-01

为推动全世界在听阈级测量的表示中的统一性与一致性,本标准为听力计用的听阈级的分度规定了基准零级。 本标准阐述的资料可直接用于听力计的校准,即表示为在GB/T7342中耦合腔测量的两种不同标准耳机的响应,以及在GB/T7614中仿真耳上测量的其他压耳式耳机的响应。 本标准基于若干负责测听标准的标准实验室和科学出版物所提供的评价。所推荐的基准级的导出及应用见附录A。

Acoustics--Reference zero for the calibration of audiometric equipment--Part 1: Reference equivalent threshold sound pressure levels for pure tones and supra-aural earphones

ICS
17.140.99
CCS
A42
发布
1999-03-08
实施
1999-09-01

本标准规定了由纯音听力计气导耳机发出的窄带掩蔽噪声的基准级。窄带掩蔽噪声的基准级,是指当掩蔽耳机放在适当的声耦合腔、耳模拟器或仿真耳上时,要加到GB/T4854.1或GB/T16402中所规定的各相应频率的纯音基准等效阈声压级上的数值。 本标准给出1/3倍频程和1/2倍频程带宽掩蔽噪声的基准级。 注:附录A中给出有关导出基准级的几点注释。

Acoustics--Reference zero for the calibration of audiometric equipment--Part 4: Reference levels for narrow-band masking noise

ICS
17.140.01
CCS
A42
发布
1999-03-08
实施
1999-09-01

本标准详细说明经耳机、骨振器或扬声器发送录声的检查材料作气导、骨导或声场语言测听的方法和必要条件,叙述了为掩蔽非测试耳或作为竞争声而用噪声的方法。本标准还包含录制语言材料的条件和维护与校准语言测听设备的荐用方法。本标准适用于汉语普通话语言测听及地方方言的语言测听。 对有些被检查的对象,例如儿童,可能需要采用修正的检查方法,在本标准中未予阐述。本标准不适用于现场口语声(live ovice)语言检查法。在提示性附录中提出几条有助于使口语声检查尽可能得出可靠结果的建议。 由于语言的多样性,本标准没有对语言材料的内容作具体规定。不同类型的检查材料对语言测听结果可有明显的影响。 本标准未包括一些特殊检查方法,例如,定向和双耳分听检查法等。

Acoustics--Audiometric test methods--Part 3: Speech audiometry

ICS
17.140.01
CCS
A42
发布
1999-03-08
实施
1999-09-01



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