N04 基础标准与通用方法 标准查询与下载



共找到 559 条与 基础标准与通用方法 相关的标准,共 38

High and low temperature test chamber technical conditions

ICS
19.040
CCS
N04
发布
2023-03-17
实施
2023-10-01

本文件界定了与快速检测相关的术语与定义。 本文件适用于快速检测方法、快速检测产品等快速检测相关领域。

Rapid detection—Terms and definitions

ICS
71.040
CCS
N04
发布
2022-12-30
实施
2022-12-30

本文件界定了与数码照相机的技术要求、试验方法以及与数码照相机的使用相关的术语和定义。 本文件适用于与数码照相机相关的标准制定、文件编制、教材撰写、书刊编辑和文献翻译等。

Digital camera—Vocabulary

ICS
37.040.10
CCS
N04
发布
2022-03-09
实施
2022-10-01 00:00:00.0

Automation systems and integration—Physical device control—Data model for computerized numerical controllers—Part 13: Process data for wire electrical discharge machining (wire-EDM)

ICS
25.040
CCS
N04
发布
2019-08-30
实施
2020-03-01 00:00:00.0

Characterization of gold nanorods—Part 3: Measurement method of surface charge density

ICS
17.220.20
CCS
N04
发布
2017-07-31
实施
2018-02-01 00:00:00.0

Nanotechnology—Nanobiological effects of nanomaterials—NMR-based metabolomics

ICS
71.040.50
CCS
N04
发布
2017-07-31
实施
2018-02-01 00:00:00.0

"Characterization of gold nanorods—Part 3: Measurement method of surface charge density"

ICS
CCS
N04
发布
2017-07-31
实施
2018-02-01

Nanotechnology—Test method for size of nanoparticles—Atomic force microscopy

ICS
19.020
CCS
N04
发布
2017-05-12
实施
2017-12-01 00:00:00.0

本标准规定了用于评价多壁碳纳米管宏观样品基本特性和杂质组成的测试技术,并且侧重于在工业领域可以实现的上述基本特性的测试技术。 本标准适用于多壁碳纳米管材料研究、开发和商业化的材料表征。 本标准技术内容不包含样品具体的制备和测试方法。

Nanotechnologies.Characterization of multiwall carbon nanotube(MWCNT)

ICS
19.020
CCS
N04
发布
2016-12-13
实施
2017-07-01

本标准规定了在空气气氛下使用TGA对含单壁碳纳米管样品进行表征的方法。 本标准适用于通过定量测试材料中非碳杂质(如金属催化剂)含量进行单壁碳纳米管样品的纯度评价,和对含单壁碳纳米管样品热稳定性和均一性进行品质评价。 本标准不适用于确认单壁碳纳米管的存在和核实金属杂质组成。

Nanotechnologies.Characterization of single-wall carbon nanotubes using thermogravimetric analysis

ICS
19.020
CCS
N04
发布
2016-08-29
实施
2017-03-01

GB/T 32671的本部分规定了利用电学和声学方法在分散体系、乳状液、含有液体分散介质的多孔材料等非匀相体系中测定zeta电位的方法。 这种方法并不限定zeta电位值和分散相的质量分数,适用于稀释和浓缩体系;颗粒尺寸和孔隙尺寸限制在微米量级或更小,而对颗粒和孔隙的几何形状不做限定。本部分不包括平面上的zeta电位测量方法。 液体分散介质可以是水相,也可以是具有任意的液体电导率、介电常数或化学成分的非水相;颗粒自身可以导电也可以不导电;双电层可以分离也可以互相重叠,双电层的厚度或其他性质均没有限制。 本部分适用于电场中的线性效应,并假定表面电荷沿着界面均匀分布。 本部分不适用于与含有空间电荷分布的软表面层相关的效应。

Colloidal systems—Methods for zeta potential determination—Part 1: Electroacoustic and electrokinetic phenomena

ICS
17.140.50
CCS
N04
发布
2016-04-25
实施
2016-11-01 00:00:00.0

本标准规定了气相色谱-单四极质谱仪性能测定的方法。 本标准适用于气相色谱-单四极质谱仪性能的测定。

Method of performance testing for gas chromatography-single quadrupole mass pectrometry

ICS
71.040
CCS
N04
发布
2015-12-10
实施
2017-01-01

本标准规定了原子荧光光谱仪性能测定的方法。 本标准适用于原子荧光光谱仪性能的测定。

Method of performance testing for atomic fluorescence spectrometer

ICS
71.040
CCS
N04
发布
2015-12-10
实施
2017-01-01

本标准界定了分析仪器性能测定的相关术语和定义。 本标准适用于涉及电子光学仪器、质谱仪器、X射线仪器、光谱仪器、色谱仪器、波谱仪器、电化学仪器、光学显微镜及图像分析仪器、热分析仪器9大类分析仪器性能指标测定的各级标准、技术文件、书刊的编写。

Terminology of performance testing for analytical instrument

ICS
71.040
CCS
N04
发布
2015-12-10
实施
2017-01-01

本标准规定了用气相色谱-电子捕获检测器(ECD)测定农残分析用化合物的方法。 本标准适用于农药残留分析用高纯溶剂中含卤素等电负人性强的特性指标的测定。

Highly purified compound.Reagent for pesticide residue analysis.Method of the gas chromatography with electron capture detector(ECD)

ICS
71.040
CCS
N04
发布
2015-12-10
实施
2017-01-01

本标准规定了热重法测定样品挥发速率的方法。本标准适用于使用热重分析仪测试25 ℃~500 ℃温度区间,单一挥发组分的挥发速率。本标准适用于测试挥发速率大于5 μg/min的样品。本标准的使用者有责任确定是否需重复测试以及重复测试的次数,从而达到使用要求。本标准不包括与其使用相关的所有安全问题。在使用本标准方法之前,使用者有责任建立适当的安全与健康规范,并确认规范的适用性。

Test method for volatility rate by thermogravimetry

ICS
19.020
CCS
N04
发布
2014-09-30
实施
2015-04-15

本标准规定了多接收电感耦合等离子体质谱法分别测定水中锌、铅同位素丰度比的方法。本标准适用于经过化学提纯后转化为硝酸水溶液的锌、铅天然同位素丰度样品的测定,样品的检测范围为锌含量5 ng/g~3 000 ng/g、铅含量0.5 ng/g~500 ng/g。

Determination of zinc and lead isotopic ratios in aqueous solution.Multiple-collectors inductively coupled plasma mass spectrometry

ICS
71.040
CCS
N04
发布
2014-09-30
实施
2015-04-15

本标准规定了基于多种技术和应用领域标准进行科学合理分类和管理的制造业信息化标准体系结构。本标准适用于制造业信息化公共服务平台的开发和应用以及信息化系统集成,为各层次应用工程实施提供标准化支撑。

Manufacturing information standard architecture

ICS
25.040
CCS
N04
发布
2014-09-03
实施
2015-02-01

本标准规定了采用分子光谱多元校正定量测定样品成(组)分浓度(含量)或样品性质的指导原则。本标准适用于中红外光谱(约4000 cm~400 cm)和近红外光谱(约780 nm~2500 nm)范围的分子光谱。

Standard guidelines for molecular spectroscopy multivariate calibration quantitative analysis

ICS
01.040.17
CCS
N04
发布
2013-11-12
实施
2014-04-15

本标准规定了利用Si(111)唱面原子台阶高度样品校准原子力显微镜=向标度的测量方法。 本标准适用于在大气或真空环境下工作的原子力显微镜,并且其=向放大倍率达到最大量级,即>向位移在纳米和亚纳米范围内,这是原子力显微镜用于检测半导体表面,光学器件表面和其他高科技元件表面中经常用到的检测范围。 本标准并未指出所有可能的安全问题,在应用本标准之前,使用者有责任采取适当的安全和健康措施,并保证符合国家有关法规规定的条件。 注:本标准中以国际单位制规定的数值作为标准值,括号内插人的数值仅供参考。

Test method for calibrating the z-magnification of an atomic force microscope at subnanometer displacement levels using Si(111) monatomic steps

ICS
19.020
CCS
N04
发布
2011-12-30
实施
2012-05-01



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