共找到 400 条与 光学测量仪器 相关的标准,共 27 页
本文件规定了使用拉曼光谱测量石墨烯相关二维材料的层数的方法。 本文件适用于利用机械剥离法制备的、横向尺寸不小于2μm 的石墨烯薄片的层数测量。化学气相沉积(CVD:chemi c a lvapo rdepo s i t i on)法制备的以AB堆垛或ABC堆垛的石墨烯薄片可参照本方法执行。 注1:测量石墨烯薄片的层数时,可单独或者综合几种方法联合测量并相互验证。 注2:第5 章给出了基于2D模的线型(A法)。第6 章给出了基于SiO2/Si衬底的硅拉曼模峰高(B法)进行石墨烯薄片层数测量的拉曼光谱法。 附录A给出了拉曼光谱法测量石墨烯薄片层数的各种方法概要一览表。 附录B给出了基于石墨烯薄片G模的峰高(C法)进行石墨烯薄片层数测量的拉曼光谱法。
Nanotechnologies—Measurement of the number of layers of graphene-related two-dimensional (2D) materials—Raman spectroscopy method
本文件规定了光学对比度法(包括反射光谱法和光学图片法)测量石墨烯相关二维材料的层数的仪器设备、样品准备、测量步骤、测试报告等内容。 本文件适用于利用机械剥离法或化学气相沉积法(CVD:chemicalvapordeposition)制得的晶体质量高、横向尺寸不小于2μm、层数不多于5的石墨烯薄片及石墨烯薄膜的层数测量。其他方法制得的石墨烯薄片及石墨烯薄膜可参照本文件执行。
Nanotechnologies—Measurement of the number of layers of graphene-related two-dimensional (2D) materials—Optical contrast method
本标准适用于照度计和亮度计。本标准定义了应用于普通照明测量的上述设备的性能表征的质量指标,以及各个指标的测量过程和标准校准程序。照度和亮度的测量及其准确度受许多因素影响,例如操作条件、光源特性和所使用光度计的特性。对于一个具体的测量任务,仅根据光度计的特性无法估算其测量不确定度。然而,在大多数情况下,性能较好的设备比性能较差的设备的测量不确定度更小。本标准旨在: ———为各个质量指标提供清晰明确的定义; ———规定量化评估这些质量指标的测量步骤与方法; ———规定照度计和亮度计的校准条件。
Characterization of the performance of illuminance meters and luminance meters
本标准规定了空间用光纤光栅传感系统的要求、质量保证规定与交货准备。 本标准适用于空间用光纤光栅传感系统(以下简称光纤光栅传感系统 )的研制、生产、检验和验收。 其他光纤光栅传感系统可参照执行。
General specification for fiber bragg grating sensing system for space application
Nanotechnologies—Raman shift correction value for spectrometer calibration
本标准规定了电子经纬仪产品系列的术语和定义、等级及基本参数、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输及贮存。 本标准适用于等级为1"、2"、5"及10"电子经纬仪(以下简称仪器)。
Electronic theodolite
本标准规定了激光共聚焦显微拉曼光谱仪的术语和定义、仪器结构、技术要求、测试方法等。 本标准适用于以连续激光为激发光源,具有单级、二级或三级光谱仪的色散型共聚焦显微拉曼光谱仪(以下简称仪器)。 本标准不适用于傅立叶变换拉曼光谱仪等非色散型拉曼光谱仪和基于脉冲激光光源的拉曼光谱仪。
Nanotechnology—Performance testing for laser confocal microscope Raman spectrometers
本标准规定了航天器发射平台基准信息的测量中使用的方位垂直传递装置的通用技术要求、检验规则、交货准备要求以及主要性能检验方法。 本标准适用于航天器发射平台基准信息的测量中使用的方位垂直传递装置的设计、生产、试验和验收。
General specification for the equipment of passing azimuth angle vertically
本标准规定了飞行器靶场跟踪测试试验中使用的光电跟踪测量设备的通用技术要求、检验规则、交货准备要求以及主要性能试验方法。 本标准适用于飞行器靶场跟踪测试试验中使用的光电跟踪测量设备的设计、生产、试验和验收。
General specification for photoelectric tracking and measuring equipment
本标准规定了光学经纬仪的术语和定义、等级及基本参数、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输及贮存。 本标准适用于DJ,DJ,DJ,DJ ,DJ光学经纬仪(以下简称仪器),其他类型的经纬仪也可参照使用。
Optical theodolite
本标准规定了星敏感器通用技术要求、检验规则、标志、包装、装箱、运输和贮存。本标准适用于星敏感器的设计、制造、检验、验收、运输及贮存。
General specification for star sensor
本标准规定了测量光源色品坐标用的三刺激值色度计的性能表征方法。 本标准适用于各种提供照度或亮度值的测量光源颜色用三刺激值色度计,具有内置光源、用于测量反射和透射材料颜色的色度仪器不在本标准范围之内。
Methods for characterising tristimulus colorimeters for measuring the colour of light
本标准规定了全站仪的等级及基本参数、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存等。 本标准适用于全站仪(以下简称仪器)。
Total station
本标准规定了有关测距仪、水准仪、经纬仪等大地测量仪器以及在军事地形测量、地质测量、平面测量和工程测量中使用的部件的术语和定义。而与摄影测量法、天文学、水文测量及工业测量有关的术语除外。 本标准不适用于与仪器功能无关的部件。本术语按英文字母顺序排列。
Optics and optical instruments.Geodetic and surveying instruments.Vocabulary
本标准规定了X射线光电子能谱(XPS、X-ray Photoelectron Spectroscopy 或ESCA,Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)的一般表面分析方法以及相关的表面化学分析术语的含义,适用于X射线光电子能谱仪。
General rules for X-ray photoelectron spectroscopic analysis method
本标准规定了光学经纬仪产品系列的等级及基本参数、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输及贮存。 本标准适用于DJ07、DJ1、DJ2、DJ6、DJ30。光学经纬仪,其他类型的经纬仪也可参照使用。
Optical theodolite
本标准规定了电子束下稳定的天然和人工合成硅酸盐矿物的电子探针或扫描电子显微镜中X射线波长色散光谱仪的定量分析方法。 本标准也适用于其它含氧酸,如磷酸盐、硫酸盐等矿物以及普通氧化物。其基本准则也适用于X射线能谱仪的定量分析。
Quantitative analysis of silicate minerals by electron probe microanalysis
本标准规定了透射电子显微镜-X射线能谱仪定量分析生物薄试样的技术要求和规范。 本标准适用于生物薄试样所含非超轻元素的定量分析。
General specification of transmission electron microscope(TEM)--X-ray energy dispersive spectrum(EDS) quantitative microanalysis for thin biological specimens
本标准规定了电子探针和扫描电子显微镜的X射线波谱仪、X射线能谱仪对玻璃的定量分析方法。 本标准适用于玻璃试样(包括含碱金属玻璃)的定量分析。
Quantitative analysis of glass by electron probe microanalysis
本标准规定了用X射线波长色散光谱仪进行稀土氧化物的定量电子探针分析方法。 本标准适用于对稀土氧化物组成体系的平面、抛光固体样品的定量电子探针分析。
Quantitative analysis of rare earth element(REE) oxides by electron probe microanalysis(EPMA)
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