31-030 标准查询与下载
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Specification for common mixture liquid crystal materials
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 2018-12-28
- 实施
- 2019-07-01 00:00:00.0
本标准规定了平板显示器基板玻璃的包装箱装运要求。 本标准适用于平板显示器基板玻璃包装箱的装载和运输。
Specification for flat panel display glass substrates shipment
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 2016-04-25
- 实施
- 2016-11-01
本标准规定了使用触针式表面粗糙度测量仪测量平板显示器基板玻璃表面波纹度的测量方法。 本标准适用于测量平板显示器用基板玻璃的表面波纹度。
Flat panel displays glass substrates surface waviness measurement method
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 2016-04-25
- 实施
- 2016-11-01
本标准规定了平板显示器用基板玻璃的包装术语和包装要求。 本标准适用于可以装载一定数量平板显示器用基板玻璃的包装。
Specification for flat panel display glass substrates packaging
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 2016-04-25
- 实施
- 2016-11-01
本标准规定了平板显示器基板玻璃边缘规格要求及试验方法。 本标准适用于厚度为0.3 mm~2.2 mm的平板显示器基板玻璃。
Specification for edge condition of flat panel display glass substrates
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 2016-04-25
- 实施
- 2016-11-01
本标准规定了平板显示器基板玻璃的标准尺寸。 本标准适用于厚度从0.3 mm~2.2 mm、标准尺寸从320 mm × 300 mm至3 000 mm × 3 320 mm的平板显示器基板玻璃。
Standard size for flat panel display glass substrates
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 2016-04-25
- 实施
- 2016-11-01
本标准规定了平板显示器用基板玻璃的术语和定义、技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输和储存。 本标准适用于平板显示器用基板玻璃。
Specification for flat panel display glass substrates
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 2016-04-25
- 实施
- 2016-11-01
本标准规定了平板显示器基板玻璃化学试剂耐久性的试验方法。 本标准适用于平板显示器基板玻璃化学耐久性的测试。
Test method for chemical durability of flat panel display glass substrates
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 2016-04-25
- 实施
- 2016-11-01
本标准规定了平板显示器基板玻璃有效区域相关尺寸划分及尺寸规范。 本标准适用于平板显示器基板玻璃表面各个不同区域的几何关系的描述。
Quality area specification for flat panel display glass substrates
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 2016-04-25
- 实施
- 2016-11-01
本标准界定了平板显示器(液晶显示器、等离子体显示器、有机发光二极管显示器)基板玻璃的基本概念、尺寸特性、内外部缺陷、热学性能、化学性能、光学性能、力学性能、电学性能和包装等常用的术语和定义。 本标准适用于液晶显示器、等离子体显示器、有机发光二极管显示器基板玻璃。
Terminology for flat panel display glass substrates
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 2016-04-25
- 实施
- 2016-11-01
本标准规定了使用触针式表面粗糙度测量仪测量平板显示器基板玻璃表面粗糙度的测量方法。 本标准适用于平板显示器用基板玻璃表面粗糙度的测量。
Flat panel displays glass substrate surface roughness measurement method
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 2016-04-25
- 实施
- 2016-11-01
本标准规定了光伏组件用涂锡焊带的术语和符号、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输及贮存。 本标准适用于地面晶体硅光伏组件用涂锡焊带。
Tin-coated copper ribbon for photovoltaic application
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 2015-09-11
- 实施
- 2016-05-01
Test method for determining the content of vinyl acetate in ethylene-vinyl acetate copolymer applied in photovoltaic modules—Thermal gravimetric analysis (TGA)
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 2015-09-11
- 实施
- 2016-05-01 00:00:00.0
本标准规定了电子元器件结构陶瓷的种类、级别、技术指标要求、试验方法和检验规则。本标准适用于电子元器件用结构陶瓷材料。
Structure ceramic materials used in electronic component and device
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 2015-05-15
- 实施
- 2016-01-01
GB/T 5594的本部分规定了陶瓷材料平均线膨胀系数测试的样品、测试设备、测试方法及报告格式。本部分适用于电子元器件结构陶瓷材料的平均线膨胀系数的测试。
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device.Part 3:Test method for mean coefficient of linear expansion
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 2015-05-15
- 实施
- 2016-01-01
本部分规定了荧光粉水溶性氯化物、密度、粒度分布、相对亮度、相对光谱功率分布、色品坐标、紫外辐照稳定性、余辉相对亮度、比表面积、流明效率、余辉时间、热稳定性、湿粘着力、干粘着力、反射率、温度特性、pH值、电导率的测试方法。本部分适用于荧光粉的性能测试,其中,紫外辐照稳定性、余辉相对亮度和比表面积的测试方法仅适用于光致发光荧光粉,流明效率、余辉时间、热稳定性、湿粘着力、干粘着力、反射率的试验方法仅适用于阴极射线致发光荧光粉。
Phosphors.Part 3:Test methods for properties
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 2015-05-15
- 实施
- 2016-01-01
GB/T 5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定方法。 本部分适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。 本部分只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device.Part 8:Test method for microstructure
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 2015-05-15
- 实施
- 2016-01-01
本标准规定了测定氧化铍陶瓷材料导热系数(热导率)的棒轴法和激光闪烁法。 本标准规定的棒轴法适用于测量氧化铍陶瓷温度在40 ℃～150 ℃范围内的热导率值。此方法也适用于在上述温度范围内测量其他的低热导率陶瓷材料或陶瓷基复合材料热导率。本标准规定的激光闪射法适用于在室温至1 400 ℃范围内测量孔隙率小于10%的氧化铍陶瓷材料的热扩散系数及其热导率。此方法也适用于在上述温度范围内的测量热扩散系数在10 m/s～10 m/s间的、完全均质的、对能量脉冲不透明的其他固体材料的热扩散系数及热导率；不适于测量非均匀或各向异性的材料。
Test method for thermal conductivity of beryllium oxide ceramics
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 2015-05-15
- 实施
- 2016-01-01
GB/T 5594的本部分规定了电子元器件结构陶瓷中的氧化铝、氧化铍等陶瓷材料化学稳定性的测试方法。本部分适用于电子元器件结构陶瓷中的氧化铝、氧化铍等陶瓷材料化学稳定性的测试。本部分不适用于测定镁橄榄石、莫来石、滑石等陶瓷材料的化学稳定性。
Test methods for properties of structure ceramics used in electronic component and device.Part 6:Test method for chemical durability
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 2015-05-15
- 实施
- 2016-01-01
GB/T5594 的本部分规定了装置零件,真空电子器件,电阻基体,半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料介电常数和介质损耗角正切值的测试方法。 本部分适用于装置零件.真空电子器件.电阻基体,半导体及集成电路基片等用电子陶次材料在频率为1 MHz ,温度从室温至500 DC条件下的介电常数和介质损耗角正切值的测试。
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic component and device.Part 4:Test method for permittivity and dielectric loss angle tangent value
- ICS
- 31-030
- CCS
- L90
- 发布
- 2015-05-15
- 实施
- 2016-01-01
