二次离子质谱分析（SIMS）讲义

上一篇 / 下一篇  2010-10-16 11:22:24/ 个人分类：二次离子质谱资料

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　　二次离子质谱

　　(Secondary Ion Mass Spectrometry 简称 SIMS)

　　一、简介

　　二、离子与表面的相互作用

　　三、溅射的基本规律

　　四、二次离子发射的基本规律

　　五、二次离子质谱分析技术

　　六、二次离子分析方法

　　七、二次离子质谱的研究新方向

　　八、总结

　　SIMS的主要特点：

　　1. 具有很高的检测极限

　　对杂质检测限通常为ppm，甚至达ppb量级

　　2. 能分析化合物，得到其分子量及分子

　　结构的信息

　　3. 能检测包括氢在内的所有元素及同位素

　　4. 获取样品表层信息

　　5. 能进行微区成分的成象及深度剖面分析




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引用 删除 王朝英   /   2013-01-10 19:58:48
评 5 分
引用 删除 xiewenbo   /   2012-11-06 09:18:32
多谢楼主了
引用 删除 xiewenbo   /   2012-11-06 09:18:12
评 5 分
引用 删除 zraindream   /   2012-08-04 14:26:53
谢谢了
引用 删除 zraindream   /   2012-08-04 14:26:37
评 5 分
引用 删除 zhouhx4713   /   2011-11-11 23:33:01
评 5 分
hitmse 引用 删除 hitmse   /   2011-04-06 17:03:54
评 1 分
hitmse 引用 删除 hitmse   /   2011-04-06 17:03:51
谢谢分享
butterfly007 引用 删除 butterfly007   /   2010-10-19 17:07:02
评 5 分
hongjingzi 引用 删除 hongjingzi   /   2010-10-18 15:56:47
评 5 分
 

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