X射线衍射里特沃尔德全谱图拟合法测定粉尘中游离的SiO2

　应用X射线衍射技术与Rietveld全谱图拟合法测定了粉尘中游离SiO2 的含量,并同时得到粉尘样品中其它晶相和非晶相物质的含量。实验采用日本理学D /MAX 2500V型X射线衍射仪, CuKα辐射带石墨单色器,管电压44 kV,管电流150 mA,步进扫描收集衍射数据,经Jade 5. 0软件定性分析, DBWS9807a软件定量分析,结果为: Rp平均等于11. 29% , Rwp平均等于13. 74% , Rexpected平均等于4. 04%。SiO2 在各样品中的含量为15. 61% ～37. 83%;加标回收率为102. 6%～119. 9%;重现性测定相对标准偏差(RSD)为1114%。结果表明:用Rietveld全谱图拟合法测定粉尘中游离SiO2 的含量是一种快速、准确、方便的方法。