气相色谱法测定高纯气体中氧、氮杂质时出现反峰的原因分析

上一篇 / 下一篇 2008-09-23 22:34:16/ 个人分类：分析仪器

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《分析仪器》2008年02期

气相色谱法测定高纯气体中氧、氮杂质时出现反峰的原因分析
石洁
　　用气相色谱法测定5N以上的高纯气体时,有时氧或氮杂质的出峰方向变反,而无法对分析结果进行定量。本文通过具体实例,分析了峰形变反的原因并提出解决措施。
【作者单位】：中国电子科技集团公司第十三研究所石家庄;050051
【关键词】：反峰;冷阱;载气
【分类号】：TH833
【DOI】：CNKI:SUN:FXYQ.0.2008-02-022
【正文快照】：
　　用气相色谱法分析高纯气体时，由于其中氧、氮杂质的含量为xlo一‘，所以当仪器处于异常状态时，氧、氮出峰方向会改变而影响定量分析，需要及时查找原因并予以解决。1仪器与材料GC一gA气相色谱仪配以热导检测器;内径3mmSUS填充柱，SN氦气瓶+液氮冷阱作载气，以氦气为底气内含

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