核保障的微粒分析与二次离子质谱仪

上一篇 / 下一篇 2008-09-27 17:53:56/ 个人分类：质谱学报

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《质谱学报》2006年03期

核保障的微粒分析与二次离子质谱仪
李安利;赵永刚;李静;王林博
　　环境监测是加强核保障体系的重要监测手段,微粒分析是环境监测中最重要的分析技术之一。与整体分析相比,微粒分析能获得更多信息,因而已发展成为核保障环境监测中的常规分析方法。动态型二次离子质谱仪(SIMS)是进行微粒同位素分析最适用的测量仪器之一。在用SIMS分析各种性质的环境样品和擦拭样品时,样品制备是关键性的技术。
【作者单位】：中国原子能科学研究院放射化学研究所北京102413
【关键词】：核保障;微粒分析;二次离子质谱仪(SIMS);制样技术
【分类号】：O657.63
【DOI】：cnki:ISSN:1004-2997.0.2006-03-008
【正文快照】：
　　国际原子能机构(IAEA)核保障的目的,是防止民用核材料和核设施转用于制造核武器。传统上的核保障以核材料衡算为基本保障措施,并以封隔监视为辅助措施。经过近三十年的实践,IAEA已经建立起一套相对成熟的核保障体系和技术。然而1990年伊拉克秘密核武器研制计划的曝光,说明已有

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