DCM-40错位测量显微镜

DCM-40/60是一款设计独特的显微镜，可分别或同时观察物体的表面和底面图像，并对两图像进行比较，还可以通过测量装置测量两图像（表面和底面）的偏差。用途：直接测量AB两个面的错位尺寸

可选的物镜有五种，放大倍率从50X~100X。测量精度可达1μm。

DCM-40/60主要应用于微电子行业，特别是在半导体行业。产品上下面尺寸有偏移时就可以直接对比测量，减少其它间接测量方式的误差且不会损坏产品。例如：晶圆划片基准印字偏移，柔性线路板线路间距，陶瓷电容片切割对位和IC框架边缘质量等应用。

规格：

测量步骤：

1.将"光路选择开关"旋转到"Top& Bottom"位置，调整上、下物体的光轴至重合。

2.将工件置于工作台上。旋转"光路选择开关"到"Top" 位置，对焦上表面. .

3.旋转“光路选择开关"到"Bottom” 位置， 对焦下表面。.

4.将“光路选择开关"旋转到"Top &Bottom"位置，测量两图像的位置偏差。

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