X-Strata920质量控制XRF台式荧光系统南京皓海

X-Strata920是一款简洁、坚固和可靠的质量控制XRF台式荧光系统，用于简便、快速的镀层厚度测试和材料分析。

The X-Strata920可应用于常规金属处理、电子元器件制造和金属测定（如珠宝鉴定）等行业，完成单层或多层厚度测量。

主要特点包括：;

§ 成本低、快速、非破坏的EDXRF分析

§ 可完成至多4层镀层（另加底材）和15个元素的镀层厚度测试，自动修正X射线重叠谱线

§ 卓越的多元素辨识，广泛覆盖元素表上从钛（原子序数22号）到铀（92号）各元素

§ 测厚行业20年知识和经验的积淀

性能和标准

使用广受推崇的能量色散X射线荧光（EDXRF）技术, X-Strata920可实现如下测试要求：

§ 符合ISO3497标准测试方法：金属镀层——X射线光谱法测量镀层厚度 

§ 符合ASTM B568标准测试方法：X射线光谱仪测量镀层厚度，包括金属和部分非金属镀层至多同时分析25种元素

标准硬件特点介绍

井深式、开槽式样品仓设计 

§ “井深式”样品仓设计，可以测量很小到很大的广泛尺寸的样品/零件 ，可测量样品最大高度为160mm (6.3”)。样品台支架可放置在“深井”中的4个位置的卡槽上，使得不同样品都可以方便地测量。 

§ 样品台支架放置在标准位置（最上层）时，就是“开槽式样品仓”，可以测量大型平板样品，如尺寸大于仪器宽度的印制线路板。所有样品可以很方便地放置并定位到待测点。 

§ Z轴自动控制（Z向行程：43mm/1.7”）

§ 样品仓内部尺寸：152 x 279 x 508mm (6 x 11 x 20") (高x宽x深D)

简洁、坚固、耐用的设计

§ 经实践验证、坚固、耐用的设计，可在绝大多数严苛的工业条件下使用。

§ 空间占用小 –节约宝贵的工作台空间，也可近产线放置。

§ 计算机提供USB和以太网接口用于连接打印机、光驱和网络。

硬件配置概要

“井深式”开槽式样品仓，双准直器（0.1mm/4mil Ø和0.3mm/12milØ），Co二次滤波器

内置镭射 

§ 镭射用于自动精确定位X射线光管/检测器与被测样品到最佳测试距离。 

§ “一键操作”将测试头移动到最佳位置，同时将样品图像定焦（显示在屏幕上）。

§ 自动而简单的操作提高仪器测试的再现性，并将人为测量误差降到最低。 

§ 注：最佳测试距离为12.7mm (0.5”)，由X射线测试头自动调节高度（Z轴）。

彩色摄像头和镜头配置

§ 30倍光学放大， 200%数字放大。样品分析区域在用户界面显示，清晰、易用。

X射线激发和检测

§ 牛津仪器生产的、经实践验证的50瓦X射线光管

§ 微聚焦型钨靶X射线光管，产生高通量X射线，经过准直器，得到细束X射线。 这个“聚焦X射线束”可对小样品或者样品上小测试点进行高精度的分析。

§ 高分辨率、大面积、封氙气的正比例计数器

§ 结合二次滤波器来最大化灵敏度，以获得最佳元素检测。

双准直器

§ 多准直器配置提供了高灵活性，即一次滤波的准直器可以是各种不同形状和尺寸，如圆形或矩形，从而可以测试不同尺寸/面积的样品/零件。

§ 本配置包包含2个准直器，即：

§ 圆形：0.1mm (4mil) 直径

§ 圆形：0.3mm (12mil) 直径

§ 多准直器驱动机制最多可以安装6个准直器。在分析方法中指定需要使用的准直器，测量时，该准直器就会自动被驱动到测试位置。

§ 注：在X-Strata920 正常工作状态下，如果测量要求改变，准直器也可以更换或增加，保证仪器的拓展性。 

二次滤波组件

§ 包含二次滤波机制和钴滤波器用于X射线重叠谱的修正。

§ 标准钴（Co）滤波器，用于同时含有镍（Ni）和铜（Cu）的样品，如 ：NiP/Cu, **/Ni/Cu, **/Ni/Cu alloy。 

注 1)：** 指样品最上层其他元素 

注2)：本配置包包含一个Co二次滤波器，最多可装三个滤波器。

数字信号处理 

4096多通道数字分析器

§ 数字波谱处理实现最高信号吞吐量，确保最佳精确度。

§ 自动信号处理，包括X射线时间修正和防X射线脉冲积累，确保最佳准确度。

电话：025-83765401，83765403，83765406市场部分机号：12，13，14，15传真：025-83765402-18

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