氢化物_原子荧光光谱法直接测定地质物料中痕量锗

上一篇 / 下一篇  2009-04-04 11:53:21/ 个人分类：原子荧光

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摘要　采用特种空心阴极灯作激发光源和具有氩氢火焰低温自动点燃装置的原子荧光仪,氢化法直接测定地质物料中痕量锗,方法的测定下限为0.02μg/g,线性范围1-400μg/L,精密度(RSD,n=11,1116μg/g Ge)为1.79%,加标回收率97.8%。经标样和大批量样品分析验证,方法可靠实用。



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TAG: 光谱法原子荧光地质物料氢化物锗

 

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