比表面仪测吸附回线

比表面仪圆柱孔吸附和脱附情况分析中,吸附时,两曲率半径不等：r1=rk，r2=∝, rk=rp-t, 脱附时两曲率半径相等：r1=r2=rk，将它们代入凯尔文方程后，可得： ln(P/P0)d = -2γ
所以，（P/P0）²a=（P/P0）d

因此，对于给定的一定吸附量或吸附体积V,吸附的相对压力（P/P0）a必然大于脱附的相对压力（P/P0）d(或者说，在一定相对压力下，其脱附支对应 的吸附量总大于吸附支对应的吸附量)。对完整的吸附和脱附过程来说，即发生吸附支与脱附支在中压区分离，而在低压和高压区闭合成环的现象，称为吸附回线或 滞后环。
不仅是圆柱孔，其它孔形的毛细孔同样也出现吸附回线的情况。
各种固体的孔形结构错综各异，它们的吸附回线自不相同，但经德·博尔研究比较之后，认为不会超出下列A、B、C、D、E五类典型回线（图5）。人们在研究 催化材料孔结构时，参照这五类典型回线分析实验吸附回线，对于认识所研究的材料孔结构特征，合理选择孔分布计算的模型，可以提供有益的启示。
详见：麦克默瑞提克比表面仪