FE-SEM测试_FE-SEM检测_场发射扫描电镜测试_检测

FE-SEM测试_FE-SEM检测_场发射扫描电镜测试_检测

场发射SEM  EDS扫描电镜

     是依据电子与物质的相互作用。样品表面加一个强电场，样品表面势垒降低，由于隧道效应，样品金属内部的电子穿过势垒从金属表面发射出来，这种现象称场发射。亮度高约比普通SEM高100倍，分辨率可达10nm.

2. FE-SEM EDS扫描电镜能谱应用

     材料，粉体，矿物粒径大小，表面断面形貌分析, 填料分散状态复合材料结构, 材料晶型分析晶粒大小,材料物相分析。元素定性分析。

3.适用标准

GB/T 16594-2008微米级长度的扫描电镜测量方法通则

GB/T 17362-2008 黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法

4.送样要求

粉状样品1-5g之间，能把3-5mm直接样品填满即可。块状样品不能大于5mm宽，高度小于5mm.

联系人：周工18321012245；张工18321432694

QQ：2312070180

企业微博：http://weibo.com/jituotech

企业博客：http://jituotech.blog.163.com/

邮箱地址：2312070180@qq.com

公司网址：www.jituotech.com