AccuTOF DART 系统的峰形校正和分子式测定

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Mass Works 技 术 专 题

      结合创新的大气压离子化技术和高分辨飞行时间（TOF）质谱的AccuTOF DART系统，是未知化合物识别的有利工具。尽管系统具有相对较高的质量准确度，但仅仅依靠质量准确度用于分子式筛选，很难得到唯一的分子式。MassWorks sCLIPS的峰形校正能大大提高仪器唯一识别未知物的能力，而且在存在干扰的情况下不需要额外校正也能很好识别。

      这篇应用文章通过来自AccuTOF DART系统的一个实例，显示了TOF MS峰形校正对于分子式识别的重要性，说明不使用内标或外标，利用MassWorks sCLIPS（自校正线形谱图同位素轮廓搜索）对于分子式检测的可行性。