X射线粉末衍射仪(XRD)

上一篇 / 下一篇  2010-02-19 18:26:24/ 个人分类:仪器设备

X射线粉末衍射仪(XRD) 简介: 
仪器型号:X'Pert Pro MPD 
厂商: 荷兰 飞利浦 

性能参数: 

  • 线性度:+/-0.0025
  • 重现性: +/-0.0001
  • 扫描速度范围:0.001-1.27°/s
  • 最小步长:0.0001°
  • 2θ 测量范围:0~167°;
  • 测角仪半径可调范围:135-230mm
  • 管轴最大转距:30nm
  • 探测器最大转距:10nm
 
应用范围: 

测试项目:

  • 普通图谱扫描,指定方法录谱,物相定性,薄膜图谱常规扫描,小角录谱,晶粒度测定,物相半定量,薄膜厚度粗糙度分析,薄膜物相定性,原位录谱,结晶度测定,(包含各晶相含量),晶胞参数指标化,结构精修,
 
说明: 

  • 粉末,多晶样品
 
实验室科学楼2层 207 
负责人: 黄清明 
联系电话:87893206 
电子邮件:qmhuang[at]fzu.edu.cn 

TAG: xrd

 

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  • 建立时间: 2010-02-11
  • 更新时间: 2010-02-19

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