X-MET5000样本(矿石分析)

牛津仪器宣布推出一款坚固的手持式 X 射线荧光光谱仪 (XRF) — X-MET5000，该仪器能够进行高精度、高可靠性的多元素矿石分析。牛津仪器的手持式 X 射线荧光光谱仪誉满全球，X-MET5000 是其第四代产品。

这款拥有牛津仪器 PentaFET® 专利探测器技术的仪器，保证了对矿山现场勘探过程中用户所感兴趣的元素均得到快速分析，并且提供更低的元素检测下限。

X-MET5000可直接测试岩芯样品，也可以为后续的精确实验室测试筛选样品。多元素矿石可以通过这款仪器得到有效可靠的分析。友好用户界面的经验系数法校准软件可以直接分析现场样品，而通用的基本参数法分析模式可以分析无已知标样的矿石样品。20秒内即可获取分析结果——其强大的用户自定义软件能够提供准确的分析结果，从而提高了“Go/No-Go”决定的可靠性。

这款坚固、可靠的工具通过了 IP54 (NEMA 3) 认证，具备卓越的防水防尘性能。X-MET5000 是恶劣应用环境的理想选择。该仪器所配备的电池可持续使用一个工作日，从而提高了工作效率。

借助于其可选配的台式支架，可免除执行多分析任务时的手工操作，同时又不会令测量结果的置信水平受到任何影响。