表面是否清洁?直接表面光谱分析法用于清洁验证

上一篇 / 下一篇  2008-06-09 16:37:04

  • 文件版本: V1.0
  • 开发商: 本站原创
  • 文件来源: 本地
  • 界面语言: 简体中文
  • 授权方式: 免费
  • 运行平台: Win9X/Win2000/WinXP

本文介绍了一种全新的设备表面分析和清洁验证方法。检测结果可与已有的擦洗检测方法相媲美。SpotView系统不仅可以显著减少设备的停机检修时间,而且可以直接、实时地判断设备表面是否清洁。




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TAG: 光谱spotview

 

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