【讲座简介】
由于纳米材料的特殊结构和性质，已经越来越多的被应用于工业和生活的各个领域，而已有的对于纳米颗粒表征和检测的手段并不适于常规监测。利用单颗粒纳米材料检测技术，仅通过一次ICP-MS快速分析就可以同时测定一种样品中的纳米颗粒粒径和粒径分布、元素组成、浓度(颗粒数/体积和质量/体积)以及溶解态金属浓度。本次研讨会主要给大家介绍Agilent ICP-MS 7900在纳米材料检测中的原理和应用。
【主讲人简介】
贠照军，安捷伦科技(中国)有限公司应用工程师，从事ICP-MS的应用支持工作，负责ICP-MS在各行业的应用及新方法的开发。
【合作伙伴】
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