【内容简介】

原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。由于AFM独特的成像方式，使得它在科学研究工作中，如金属、半导体材料、微电子、物理、化学、生物、纳米材料、生命科学等众多科学领域中得到迅速的发展和应用。

本次研讨会，分析测试百科网将邀请行业专家，同大家一起探讨原子力显微镜技术，希望能对行业内工作者带来帮助和启发。

【日程安排】

【报告简介】

原子力显微镜技术发展沿革与热点

科学研究的视野日益微观，实验的需要也逐步从静止的状态观察深入到动态的过程观测。对于原子力显微镜而言，仅仅着眼于样品表面的形貌观察无异于故步自封。科学研究需要能够深入到表面及界面层捕捉反应过程的仪器。

原子力显微镜与可见-红外-拉曼-荧光联用系统

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