上海阿拉丁生化科技股份有限公司

20201117 超低比表面物理吸附和真密度分析的技术突破及其应用


2020年11月17日 14:00

2020年11月17日 15:00

杨正红

理化联科(北京)仪器科技有限公司

先进材料  

表界面物性测试


内容简介

iPore 400全自动物理吸附分析仪是理化联科最新开发的按照欧洲标准设计制造的6站比表面和孔径分析仪,专门为了解决超低比表面材料的质量控制的痛点问题。该仪器从影响比表面测定的因素入手,严格控制由温度、体积和压力测量带来的误差,采用了一系列新技术,配合全自动智能脱气站,建立了新一代物理吸附仪的技术标准。iPore 400技术突破也为纳米薄膜的孔径分析建立了方法,它将引领下一代物理吸附分析仪的新标准。高稳定性、高重复性、高效率、超高性价比为企业不断带来惊喜!

主讲人简介

从事颗粒特性表征工作20余年,长期担任美国康塔仪器公司北京代表处首席代表;将马尔文(Malvern)和康塔(Quantachrome)品牌在中国成功推广。现任北京粉体技术协会专家委员,中国颗粒学会第七届理事会高级理事,中国化工学会化肥专业委员会第十届委员会专家委员,全国颗粒表征与分检及筛网标准化技术委员会颗粒分技术委员会委员,国际标准化组织颗粒表征筛分法以外的粒度分析方法技术委员会(ISO/TC24/SC4)在册专家委员。2018-至今创立理化联科,致力于先进仪器装备的自主研发和产业化进程。

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