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20170303 AFM图像离线分析

20170303 AFM图像离线分析

开始时间:2017-03-03 10:00

结束时间:2017-03-03 11:00

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殷豪 高级技术支持工程师

内容简介
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内容简介

原子力显微镜(AFM)被广泛用于科研和工业界各领域,涵盖了聚合物材料表征,集成光路测量,材料力学性能表征,细胞表面形态观察,生物大分子的结构及性质,生物传感器,分子自组装结构等领域的监测等各类科研和生产工作。本次讲座我们将重点介绍采用Bruker NanoScope Analysis离线处理软件对所获取的 AFM图像进行后期处理以及数据分析。

本次讲座的内容主要包括: 1、介绍NanoScope Analysis软件中图像处理类功能的原理以及使用方法,包括Flatten, Erase, Plane Fit, Lowpass等。 2、介绍NanoScope Analysis软件中数据分析类的功能,包括Section, Roughness, Step, Particle Analysis等。

主讲人简介

殷 豪,1981年出生,男,博士,布鲁克高级技术支持工程师,客户培训讲师。2010年毕业于中国科学院上海技术物理研究所,获得理学博士学位。博士期间主 要从事基于原子力显微镜(AFM)的III-V族半导体纳米电子学研究;毕业后主要从事AFM相关的软硬件技术支持,以及售后应用支持;具有长达9年的 AFM技术经验。

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