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微分干涉相衬显微镜

关于光学显微镜微分干涉相衬法的相关叙述

微分干涉相衬法: 为了克服相差法观察时样品细节像周围伴随有光晕,会掩没掉本来应该看见的细节,以及样品或组织切片厚度要求相当薄,原则上下能厚于10?m等局限性,利用双光束干涉的原理设计子微分干涉相衬法。 调整方法: a. 必须在库勒明系统已调好的基础上才能调好dic方法 b. 先用10×物镜,以明视野先确定好能把样品看清晰的物镜调焦位置 c. 把起偏器(polarizer)摆入照明光路中,注意其取向应为东—西方向 d. 把聚光镜转盘转到与10×物镜对应使用的位置上,即dic 0.3—0.4 e. 在物镜后方或物镜转换器上插入10×物镜使用的dic插片(dic slider) f. 把检偏器(analyser)插入成像光路中,注意其取向应为南—北方 g. 换上待观察的透明样品,开亮光源把样品调焦清晰 h. 调节dic插片,使微分干涉相衬的像达到最佳效果,也就是浮雕效果最为明显 i. ......

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微分干涉相衬显微镜相关资料

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相衬显微镜-仪器信息

HX-230D大型正置微分干涉相衬金相显微镜适用于对不透明物体的表面形态进行反射式微分干涉相衬观察,也可对透明物体进行透视显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念,可以方便升级系统,实现偏光观察、微分干涉相衬观察等功能,紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微操作的防振要求。

MS-200D工业检测显微镜适用于对工件表面的组织结构与几何形态进行显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念,可以方便升级系统,实现偏光观察, DIC观察等功能,导柱升降装置,可以快速调整工作台与物镜之间的距离,适用于不同厚度工件检测。机械移动式载物平台有效定位工件观察部位。

H2320D微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色 差物镜、大视野目镜和偏光观察装置,具有图像立体感且清晰、造型美观,操作方便等特点,是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。

) 数码相机接头CANON(EF)  NIKON(   F)   PZ-L3230 DIC微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微观察。PZ-L3230 DIC微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微

PZ-L3230 DIC微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色 差物镜、大视野目镜和偏光观察装置,具有图像立体感且清晰、造型美观,操作