透射电子显微镜图像分析

) 静态图像法：由显微镜、摄像机和图像分析软件组成。优点：成本较低，操作简单，图像清晰、可进行圆形度、长径比等形貌分析。缺点：分析速度慢，无法分析细 颗粒（如-2 μm ）。(4) 电镜法：用电子显微镜（扫描电镜或透射电镜）拍摄颗粒图像

功能之间关系的需求与日俱增，推动了对三维结构分析技术的需求，如中子能谱、电子显微镜成像和X射线衍射。透射电子显微镜广泛应用于物理和生物科学的结构分析，包括三维物体到二维图像的投影。未来五年，对先进材料和生物样品的三维分析需求的不断增长将推动对

能量损失。该能量会被转换成热、光、二次电子等能量同时反向散射电子。此时通过软件系统进行翻译转换后得到清晰的标本图像信息。从成像原理分析，扫描电子显微镜的分辨率会比透射电子显微镜的分辨率稍差。但它的优势在于可以利用表面处理，创建大样本的图像

图像分析软件组成。优点：成本较低，操作简单，图像清晰、可进行圆形度、长径比等形貌分析。缺点：分析速度慢，无法分析细 颗粒（如-2 μm ）。(4) 电镜法：用电子显微镜（扫描电镜或透射电镜）拍摄颗粒图像，然后再进行图像 分析的方法。优点：能

　　 氧化石墨烯表征途径主要为图像类检测法和图谱类检测法，图像类检测法主要以光学显微镜、扫描电子显微镜（SEM）、透射电镜（TEM）和原子力显微分析（AFM）为主，而图谱类检测法主要以红外光谱（IR）、拉曼光谱（Raman）和X射线衍射

推出Thermo Scientific Spectra 扫描/透射电子显微镜（S/TEM），旨在通过提供先进的原子技术加速突破性发现在一个工具中进行成像和分析。Spectra结合了市面上最高的SEM/TEM图像分辨率规格和高灵敏度，使所有

得到清晰的标本图像信息。从成像原理分析，扫描电子显微镜的分辨率会比透射电子显微镜的分辨率稍差。但它的优势在于可以利用表面处理，创建大样本的图像，尺寸可达几厘米，并且具有较大的景深。因此，来自 SEM 的图像可以较好地表达样品的真实形状。此外

较低，操作简单，图像清晰、可进行圆形度、长径比等形貌分析。缺点：分析速度慢，无法分析细 颗粒（如-2 μm ）。(4) 电镜法：用电子显微镜（扫描电镜或透射电镜）拍摄颗粒图像，然后再进行图像 分析的方法。优点：能准确分析纳米颗粒和超细颗粒

计算机对这些放大的图像进行处理分析即可获得样品的精细结构。透射电子显微镜成像过程中，电子束穿透样品，将样品的三维电势密度分布函数沿着电子束的传播方向投影至与传播方向垂直的二维平面上。1968 年，AronKlug发现中心截面定理（图3.3），提出