2018 国际材料与试验高端论坛将于 2018 年 10 月 15 - 18 日在国家会议中心举办。同期召开由中国钢研科技集团有限公司( CISRI )与中国金属学会分析测试分会联合主办的 “ ICASI ’ 2018 & CCATM ’ 2018 国际冶金及材料分析测试学术报告会”。国内外钢铁、有色、石油、化工、建材、纺织、航空、汽车等领域内的相关专家、学者、技术人员等 800 人将参加本次会议。
安捷伦拥有色谱,质谱,光谱多个产品线,可以为材料分析领域提供全面解决方案,与您相约此次材料测试技术产业盛会。
欢迎您莅临安捷伦展位 C44A & 45A,与我们一起互动。分会场信息如下:
分会场 1:无损检测分析分会场
时间:10 月 17 日 9:40-10:00
演讲主题:红外光谱分析技术在表面处理及新型材料上的应用
讲师:张晓丹 安捷伦分子光谱应用工程师
内容摘要:此次将针对现阶段新型材料的表面及无损测试进行最新应用的介绍,其中比较典型的应用包括涂层的快速定性鉴别、涂层老化及固化以及材料表层痕量污染物分析等。
分会场 2:化学检测分析分会场
时间:10 月 17 日 9:15-9:30
演讲主题:ICP-MS/MS 测定高纯金属中的痕量磷、硫、硅
讲师:郭伟 安捷伦 ICP-MS 应用工程师
内容摘要:Agilent 8800/8900 串联四极杆 ICP-MS/MS 通过第一级四级杆 1 个质量数的精准筛选和碰撞反应池中可控的化学反应,有效、可靠地消除了多原子干扰,进而实现对痕量元素 P、S 和 Si 的准确测定。
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大会官网链接:http://www.ccatm.cn/zh-cn/93692.html
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