日立镀层测厚仪 X-Strata920

日立镀层测厚仪

X-Strata920 是一款简洁、坚固和可靠的质量控制 XRF 台式荧光系统，用于简便、快速的镀层厚度测试和材料分析。X-Strata920 可应用于常规金属处理、电子元器件制造和金属测定（如珠宝鉴定）等行业，完成单层或多层厚度测量。

主要特点包括：

▪ 成本低、快速、非破坏的 EDXRF 分析

▪ 可完成至多 4 层镀层（另加底材）和 15 种元素的镀层厚度测试，自动修正 X 射线重叠谱线

▪ 多元素辨识，广泛覆盖元素周期表上从钛（22 号）到铀（92号）各元素

使用能量色散 X 射线荧光（EDXRF）技术, X-Strata920 可实现如下测试要求：

▪ 符合 ISO3497 标准测试方法：金属镀层—X 射线光谱法测量镀层厚度

▪ 符合 ASTM B568 标准测试方法：X 射线光谱仪测量镀层厚度，包括金属和部分非金属镀层

▪ 至多同时分析 25 种元素

日立镀层测厚仪

井深式、开槽式样品仓设计

▪ “井深式”样品仓设计，可以测量很小到很大的广泛尺寸的样品/零件 ，可测量样品高度不超过 160mm (6.3”)。样品台支架可放置在“深井”中的 4 个位置的卡槽上，使得不同样品都可以方便地测量。

▪ 样品台支架放置在标准位置时，就是“开槽式样品仓”，可以测量大型平板样品，如尺寸大于仪器宽度的印制线路板。所有样品可以很方便地放置并定位到待测点。

▪ Z 轴自动控制（Z 向行程：43mm/1.7”）

▪ 样品仓内部尺寸：152 x 279 x 508mm (6 x 11 x 20") (高 x 宽 x 深 D)

简洁、坚固、耐用的设计

▪ 经实践验证、坚固、耐用的设计，可在大多数严苛的工业条件下使用。

▪ 空间占用小 –节约宝贵的工作台空间，也可近产线放置。

▪ 计算机提供 USB 和网络接口用于连接打印机、光驱和网络。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途