为全球的高校和科研机构所使用的超高压透射电子显微镜(加速电压为1,000kV)。三维观察和原位观察实验由于超高压透射电子显微镜的加速电压很高电子波长很短，即使增......
JEM-ACE200F将JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技术整合在一起，实现了高度稳定性和高分辨率，以精炼的外观设计呈现。该设备做成了操作流程菜单......
IDES是时间分辨透射电子显微镜（TEM）领域的领导者和先驱，专门研究脉冲激光和高速静电束消隐及偏转技术。IDES的产品在TEM的特殊空间分辨率的基础上增加了时......
CRYO ARM™ 300 II 是一款低温冷冻透射电子显微镜，专门用于观察如蛋白质等对电子束敏感的样品，可进行单颗粒分析、断层扫描和MicroED等实验。与上......
2021年1月22日，日本电子株式会社（JEOL）全球同步发布300KV冷冻电镜的升级版JEM-3300,主要特点如下：1）更稳定的冷场发射电子枪2）全自动欧米......
2020年02月14日，日本电子（JEOL Ltd.）总裁兼首席运营官Izumi Oi宣布发布全新原子分辨率分析电子显微镜JEM-ARM300F2（GRAND ......
JEM-Z200FSC 场发射冷冻电子显微镜场发射冷冻电子显微镜 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200标配冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器（Ω能量过......
JEM-1400Flash 透射电子显微镜JEM-1400Flash配备了高灵敏度sCMOS相机、超广视野的蒙太奇系统以及光学显微镜图像的联动功能，是一款新型的......
JED-2300T 能谱仪JED-2300T AnalysisStation是以“图像观察和分析”为基本理念的TEM/EDS集成系统。在分析数据过程中，自动采集......
EM-05500TGP TEM断层扫描系统TEM断层扫描系统采用独特算法的软件，实现了从获取连续倾斜图像到三维重构整个过程的自动化。产品特点：精细的三维重构系统......
JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜JEM-3200FS场发射电子显微镜配备了zei高加速电压为300kV的场发射电子枪（FEG）和镜筒内置式Ω型能量过滤......
JEM-F200自动进样透射电镜透射电镜操作难点1，插拔样品杆；2，电镜操作JEM-F200自动插拔样品杆JEM-F200图像操作界面[分辨率]STEM0.16......
JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜JEM-ARM300F实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配备了JEOL自主研......
2016年新年伊始，日本电子株式会社（JEOL）即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。&nb......
透射电镜使用电子穿透样品成像，实际上入射电子在穿越样品时会与样品发生复杂的相互作用，如果使用全部的透射电子成像，必然在细节上出现假象......
JEM-2800是日本电子透射电子显微镜系列中的一款特殊设计的产品，在兼顾高分辨高稳定性的同时，zei求分析效率的zei大化和操作的自动化。颠覆传......
仪器简介：2013年8月日本电子株式会社全球同步推出120kV高衬度透射电镜JEM-1400Plus。 JEM-1400Plus采用ze......
仪器简介：JEM-2100Plus广泛应用于材料科学、纳米技术和生命科学等领域。 JEM-2100Plus搭载Windows操作界面,操作更简单。并与STEM,......
技术参数：1.分辨率：STEM图像分辨： 0.071 nm TEM点分辨：0.1......
日本电子株式会社2010年7月zei新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。传统的冷场发射技术稳定性差，亮度低，无法保证透射电镜的使用需求。日本电子......
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