高分辩衍射仪

仪器简介：

X'Pert PRO MRD/XL是高级半导体材料的标准装备，用于： 高级材料科学和纳米技术，半导体材料研究和生产质量控制，可以适用各种应用，尤其适合薄膜分析，例如： 摇摆曲线分析和倒易空间Mapping， 反射率和薄膜相分析，残余应力和织构分析， X'Pert PRO MRD/ XL 满足半导体、LED、薄膜和高级工业材料的所有高分辨XRD分析需要。XL可以满足直径达 300 mm的晶片分析，并有精密的自动晶片装载选择；XL成为薄膜生产发展的先进的分析手段，LED的业界标准。
 
可以适用各种应用，尤其适合薄膜分析，例如： 
 
·  振动曲线分析和交互空间图
·  反射仪和薄膜相分析
·  残余应力和织构分析
 
同已经证明的标准版本系统一样，还有许多专门的版本： 
 
· X'Pert PRO MRD平面衍射系统，可以测量与样品表面垂直的晶格衍射 
· X'Pert PRO Extended MRD 允许装备 X射线镜像和在线高分辨单色器，增强入射光束的强度。
· X'Pert PRO MRD XL 满足半导体，薄膜和高级工业材料的所有高分辨XRD分析需要。

技术参数：
1，功率：3kW
2，测角仪重现性：0.0001度
3，测角仪类型：T-2T
4，五维样品台

高分辩衍射仪信息由荷兰帕纳科公司为您提供，如您想了解更多关于高分辩衍射仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途