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参考报价: | 面议 | 型号: | M1 MISTRAL |
品牌: | 布鲁克 | 产地: | 德国 |
关注度: | 暂无 | 信息完整度: | |
样本: | 典型用户: | 暂无 |
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布鲁克X射线荧光测厚M1 MISTRAL可以用在多个行业领域,用来检测Ni-Cu镀层 ,可完成Au-Ni/Cu镀层分析 项目。符合多项行业标准ISO3497、ASTMB568以及DIN50987。
M1 MISTRAL与M1 0RA是测量Au-Ni/Cu镀层系统镀层厚度理想的分析工具。两种仪表的测量稳定性非常好,无论是精度还是准确性上,均能确保结果高度可信。
M1 MISTRAL 是一款紧凑型的台式 μ-XRF 光谱仪,用于分析块状材料和涂层。它的操作速度快、成本效益, 可以提供与材料元素成分有关的准确信息。测定镀层样品厚度及成分例如
Zn-Fe、Ag-Cu、Au-Ni-Cu、Cr-Ni-Cu、Au-Pb-Ni-Cu
珠宝及合金分析:
M1 MISTRAL是珠宝、硬币及贵金属的理想分析工具。珠宝合金、铂族金属及银制品、不到1分钟就可以确定其准确成分。分析结果可以用百分含量或K(开)表示
M1 MISTRAL是采用X射线荧光技术的光谱仪,可对大件样品和镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围:原子序数22号(钛)以上的元素。分析的样品类型:各类不同的材料,如金属、合金、金属镀层包括多层镀层样品
样品尺寸*大可达100×100×100mm,无需任何处理,直接放在样品台上检测。
光管位于样品上方,测量过程中部接触样品,因此可以很容易地分析复杂式样的样品,如精工细作的珠宝和不容厚度的样品。
各种应用介绍:
· 通用金属分析
M1 MISTRAL是通用金属镀层分析的理想工具,对紧固件、五金材料、汽车零部件镀层、高精度的机械部件都能进行准确、便捷的分析。
· 电子/PCB
采用X-Ray荧光技术的M1 MISTRAL也可分析薄镀层样品,如印刷电路板、引线框架、圆晶、连接器等,M2 BLIZZARD采用开放腔体,可对大型电路板进行测量。
· 珠宝及合金分析
M1 MISTRAL是珠宝。硬币及贵金属的理想分析工具。珠宝合金,30S就可以确定其准确成分。分析结果可以用百分含量或K(开)表示。
用于大件样品和多层膜样品的非破坏分析
M1 MISTRAL是采用X射线荧光技术的光谱仪,可对大件样品和镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围:原子序数22号(钛)-92号(铀)中的元素。分析的样品类型:各种不同材料,如金属、合金、块体、溶液等。
480×490×200mm3的大腔体支持更大样品的测量。自动X-Y-Z轴程控样品台,大移动范围200×175×80mm,支持自动多点测量。
X射线荧光测厚M1 MISTRAL布鲁克 适用于Au-Ni/Cu镀层分析 信息由铂悦仪器(上海)有限公司为您提供,如您想了解更多关于X射线荧光测厚M1 MISTRAL布鲁克 适用于Au-Ni/Cu镀层分析 报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途